Artykuł prezentuje metody metrologicznej weryfikacji oraz strukturę wykorzystywanego dla celów badawczych systemu tomografu elektroimpedancyjnego. Szczegółowo zaprezentowano jedną z metod opartych o model referencyjny rozkładu rezystywności, zbudowany w postaci dyskretnej z sieci rezystorów. Proponowana metoda pozwala na weryfikację dokładności (całkowitej i cząstkowych) systemu akwizycji danych, algorytmu rekonstrukcji i metody dyskretyzacji (aproksymacji) przestrzeni (płaszczyzny).
EN
In this paper the accuracy verification technique and the data acquisition system is proposed and investigated. The verification method is based on the reference model of resistivity distribution. The reference model is constructed as a network of the discrete resistors. Proposed technique permits to verity (jointly or separately) the data acquisition system, reconstruction algorithm and approximation effects.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.