PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  electric switch
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Możliwości zastąpienia wybranych łączników przez półprzewodnikowe łączniki fotokonduktancyjne
Piwowarski Karol, Perka Bogdan
Przegląd Elektrotechniczny
|
2021
|
R. 97, nr 4
88--91
PL
Artykuł ten przedstawia analizę możliwości zastąpienia wybranych, obecnie stosowanych w systemach zasilania i dystrybucji energii, łączników mechanicznych i elektrycznych półprzewodnikowym łącznikiem fotokonduktancyjnym (PCSS). W tym celu dokonano przeglądu literatury obecnie osiąganych parametrów przez łączniki PCSS, a także zaprezentowano otrzymane wyniki badań prototypu łącznika PCSS zbudowanego na podstawie półizolującego (IS) fosforku galu (GaP). Przedstawiono parametry, zastosowanie i zasadę działania iskiernika i wysokonapięciowego łącznika elektrycznego. Dokonano analizy możliwości zastąpienia tych łączników przez łącznik PCSS, a także możliwość zastąpienia ich przez przedstawiony łącznik PCSS wykonany z fosforku galu.
EN
This article presents an analysis of the possibility of replacing selected, currently used in power systems, mechanical and electrical switches with a photoconductive semiconductor switch (PCSS). For this purpose, the literature review of the parameters currently achieved by PCSS switches was carried out, and the obtained results of research on the PCSS switch prototype built on the basis of semi-insulating (SI) gallium phosphide (GaP) were presented. The parameters, application and principle of operation of the spark gap and power switch are presented. The possibility of replacing these switches by a PCSS switch was analyzed, as well as the possibility of replacing them with the presented PCSS switch made of gallium phosphide.
2
Content available Comparison of photoconductive semiconductor switch parameters with selected switch devices in power systems
Piwowarski Karol
Opto-Electronics Review
|
2020
|
Vol. 28, No. 2
74--81
EN
Currently, work is underway to manufacture and find potential applications for a photoconductive semiconductor switch made of a semi-insulating material. The article analyzes the literature in terms of parameters and possibilities of using PCSS switches, as well as currently used switches in power and pulse power electronic system. The results of laboratory tests for the prototype model of the GaP-based switch were presented and compared with the PCSS switch parameters from the literature. The operating principle, parameters and application of IGBT transistor, thyristor, opto-thyristor, spark gap and power switch were presented and discussed. An analysis of the possibilities of replacing selected elements by the PCSS switch was carried out, taking into account the pros and cons of the compared devices. The possibility of using the currently made PCSS switch from gallium phosphide was also discussed.
3
Content available remote Stanowisko pomiarowe do określania parametrów ruchu styków elektrycznego łącznika zwarciowego
Berczyński R.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 1
21--23
PL
Artykuł przedstawia konstrukcję stanowiska pomiarowego, dzięki któremu możliwe jest wyznaczenie charakterystyk czasowych ruchu styków zwarciowego, szybkiego łącznika elektrycznego, wykorzystującego mechanizm kulowy. Konstrukcja mechaniczna oparta jest na płycie bazowej, na której znajduje się badany łącznik. Jako system pomiarowy wykorzystano akcelerometr o dużym zakresie pracy oraz wielokanałowy oscyloskop cyfrowy. Przedstawione zostały dane pomiarowe oraz ich analiza.
EN
The article presents the design of the test stand, whereby it is possible to designate the movement characteristics of short-circuit contacts of high-speed electrical switch, which uses the ball mechanism. The mechanical design is based on a base plate, on which the test switch is mounted. As a measuring system used an accelerometer with a large operating range and multi-channel digital oscilloscope. Measurement data and their analysis were presented.
4
Content available remote Wybrane zagadnienia z modelowania źródeł zakłóceń elektromagnetycznych
Ruszel P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2009
|
R. 85, nr 2
89-92
PL
W publikacji przedstawiono podstawowe uwarunkowania i w dużym skrócie sposób zastosowany przez autora do budowy struktur reprezentujących łącznik elektryczny i zaburzenie wywołane jego załączeniem. To zaburzenie mające postać fali napięcia lub prądu, o dużej szybkości narastania lub opadania zbocza sygnału jest źródłem zakłóceń elektromagnetycznych. Wskazano na celowość budowy bazy modeli reprezentujących zakłócenia generowane w wyniku zadziałania łączników elektrycznych.
EN
In the issue fundamental conditions and briefly related to the method application by the author to create of structure of model of sources of electromagnetic interference are presented. The electric switch by the switching process caused wave of voltage or current to happen. The wave of voltage or current with rapid change of its slope is such source of electromagnetic distortions in wide range of frequency. In the paper is point usefulness to create of base of models of sources of electromagnetic distortions
5
Content available remote Koncepcja testowania łączników, umożliwiająca określenie ich właściwości, jako elementów wpływających na generację zakłóceń elektromagnetycznych w układach elektronicznych
Ruszel P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2009
|
R. 85, nr 6
191-194
PL
W opracowaniu omówiono koncepcję testowania elektromechanicznych i elektronicznych podzespołów realizujących funkcję łączników (kluczy elektrycznych). Umożliwia ona określenie właściwości tych podzespołów jako elementów wpływających na powstawianie zakłóceń elektromagnetycznych układach elektronicznych. Zaprezentowano również wyniki pomiarów, wykonanych przez autora, w układzie działającym według omówionej koncepcji.
EN
In the paper idea of testing electromechanical and semiconductors components which play a role of connectors (electric switches) in the electronic circuits have been discussed. This concept enables to determine these components as elements that influence the electromagnetic interferences formation in electronic circuits. Furthermore, the results of the tests, performed by the paper's author, carried out in the circuit operating according to the discussed concept, being presented in the paper.
6
Content available remote Model źródła zakłóceń, reprezentujący łącznik i zaburzenie, wywołane jego przełączeniem w prostym układzie elektrycznym
Ruszel P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2007
|
R. 83, nr 9
108-110
PL
Przełączenie łącznika w prostym obwodzie elektrycznym powoduje powstanie zaburzenia w postaci szybkiej, skokowej zmiany wartości sygnału elektrycznego (napięcia, prądu). Jednym z czynników wpływających na obraz wspomnianego zaburzenia w dziedzinie częstotliwości, jest łącznik realizujący przełączenie. W opracowaniu przedstawiono propozycję modelu źródła zakłóceń reprezentującego łącznik i zaburzenie wywołane jego przełączeniem. Przytoczono również wyniki eksperymentów wykonanych przez autora.
EN
Switching on or switching off any electric switch in a simple electric circuit results in generation of disturbances having the form of fast changes of the voltage or current values. In the frequency domain the disturbance signal is dependent on property and on residual parameters of the electric switch. In the paper model of the disturbance source, represented by electric switch and disturbance signal generated by switching the electric switch in simple electric circuit is presented. The results of experiments carried out by the author are also displayed in this study.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.