Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ekstensometria

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Ekstensometria optyczna z wykorzystaniem interferometrii siatkowej ze sprzężonymi rzędami dyfrakcyjnymi

Sałbut L.

Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Mechanika

2006

z. 213

3-78

Rosnące wymagania dotyczące niezawodności oraz bezpieczeństwa eksploatacji różnego rodzaju obiektów technicznych wymuszają rozwój metod i urządzeń służących do pomiarów przemieszczeń i odkształceń elementów konstrukcji zarówno na etapie ich projektowania, wytwarzania, jak i użytkowania. Wychodząc naprzeciw tym wymaganiom, w pracy przedstawiono, opracowaną przez autora, nową rodzinę zautomatyzowanych ekstensometrów interferencyjnych z wykorzystaniem interferometrii siatkowej ze sprzężonymi rzędami dyfrakcyjnymi. W pierwszej części omówione zostały podstawy teoretyczne interferometrii siatkowej oraz przykłady istniejących interferometrów. Szczególną uwagę zwrócono na opis interferometrów z głowicą trójzwierciadlaną oraz siatkową. Następnie przedstawiono modyfikacje laboratoryjnego interferometru siatkowego LIS wraz z elementami szacowania niepewności pomiaru. Na przykładzie badania różnego typu złącz pokazano możliwości wykorzystania LIS w optonumerycznych hybrydowych metodach badań. W drugiej części pracy zostały zaprezentowane, opracowane przez autora, nowe laserowe ekstensometry interferencyjne: zautomatyzowany laserowy ekstensometr siatkowy LES oraz rodzina falowodowych mikroekstensometrów siatkowych FaMiS. Ekstensometr LES jest w pełni zautomatyzowanym urządzeniem umożliwiającym prowadzenie pomiarów bezpośrednio na maszynach wytrzymałościowych. Mikroekstensometry FaMiS umożliwiają pomiary lokalnych przemieszczeń/odkształceń i są wykorzystywane do badań mikroobiektów. Szczegółowo przeanalizowano ich konstrukcję i własności oraz podano przykłady zastosowań. W podsumowaniu zasygnalizowano kierunki dalszych prac związanych z budową niskonakładowych zintegrowanych mikroekstensometrów do badania elementów mikrosystemów typu MEMS/MOEMS.

Optical methods of strain measurement constitute a generic technology which supports life cycle performance, safety and reliability assessments, and the design optimization of objects varying in scale from micro-machines to civil engineering structures. One of the most useful optical methods for in-plane displacement/strain measurement and monitoring is grating interferometry. In this work new optical extensometers, based on grating interferometry, are presented. In the first part, theoretical principles of grating interferometry are described and a review of existing interferometers with three-mirror and grating (achromatic) heads is presented. Foliowing this, a modification of the laboratory grating interferometer (LIS) is described and the uncertainty of in-plane displacement measurement is evaluated. For the examples of material joints, testing the usefulness of LIS in opto-numerical hybrid techniques is shown. In the second part, a new family of optical extensometers is introduced. The laser grating extensometer (LES) is a fully automated device which can work directly on the loading machine. The wave-guide grating microcxtensometers (FaMiS) can be used for microelement testing. The design and properties of these extensometers are analysed in detail, and examples of their applications in material engineering and micromechanics are presented. The final section outlines directions for further work connected with the design of low-cost, integrated, interferometric micro-exten-someters for MEMS/MOEMS testing.