Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2004

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: dynamic measuring mechanical properties

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of the tapping mode of the tip in dynamic atomic force microscope

Majewski T., Rymuza Z., Chizhik S., Pantelei S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 8-9

228-231

Dynamic Force Microscopy (DFM) utilizes vibrating probe tip to measure the topography or material properties of a sample. One end of the cantilever is driven by actuator and the tip on the opposite end impacts against the sample. We want to describe a tapping motion of the tip, obtain the correct formulas, and try to use them to define the mechanical properties of surface sample. The paper will present the relation between the excitation of the cantilever and the vibration of the tip.

Dynamic Force Microscopy (DFM) wykorzystuje się do dynamicznego pomiaru kształtu powierzchni lub jej właściwości mechanicznych. Próbnik na końcu sprężyny uderza o powierzchnię. W pracy przedstawiono opis drgań próbnika i podano zależności między wymuszeniem jednego końca sprężyny a drganiami próbnika.