Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Hutnik, Wiadomości Hutnicze

1 2012

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: dyfrakcja w geometrii Bragg-Brentano

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie nieniszczących dyfrakcyjnych metod rentgenowskich do charakteryzowania stanu struktury materiałów

Skrzypek S. J., Witkowska M., Kowalska M., Chruściel K.

Hutnik, Wiadomości Hutnicze

2012

Vol. 79, nr 4

238--246

Artykuł przedstawia niektóre istotne zastosowania metod rentgenowskich do określania wybranych właściwości i charakterystyk materiałowych odnoszących się do struktury i stanu materiałów po różnych etapach procesu wytwarzania i obróbki. Te nieniszczące metody, które wykorzystują dyfrakcję promieni rentgenowskich, dają w pośredni sposób możliwość ujawniania szeregu danych dotyczących struktury wewnętrznej, jak również pomiaru niektórych podstawowych właściwości materiałów. Typowe zastosowania obejmują pomiary mikroi makro-naprężeń własnych, grubości cienkich warstw i powłok, składu fazowego, gęstości defektów struktury, rozmiaru krystalitów oraz ich rozkładu orientacji (tekstury) itp. Prezentowane metody i techniki rentgenowskie wykorzystują szeroki zakres stosowanych długości fali oraz różne warianty geometrii dyfrakcji. W artykule uwzględniono zwłaszcza metody dyfrakcji promieniowania X w geometrii stałego kąta padania (SKP) oraz metodę Bragg-Brentano (BB) stosowane do praktycznego pomiaru grubości powłok i cienkich warstw. Takie nieniszczące pomiary mają aspekt praktyczny, np. w zastosowaniu do kontroli jakości produkcji lub poszczególnych operacji technologicznych, a także do diagnozowania stopnia zużycia eksploatacyjnego elementów maszyn.

The paper presents some important applications of X-ray methods in determination of selected material features and characteristics related to the structure and state of materials after different stages of manufacturing and processing. These non-destructive methods, which base on diffraction of X-rays, give ability to reveal indirectly a number of details of internal structure and to measure some important materials features. Typical applications comprise measurements of micro- and macro- residual stresses, thickness of thin layers and coatings, phase composition, density of lattice defects, size of crystallites and their orientation distribution (texture), etc. The presented X-ray methods and techniques utilize wide range of applicable wavelengths and different variants of diffraction geometry. Especially symmetrical and asym-- metrical Bragg-Brentano method, the methods with grazing incidence angle and reflectivity in different conditions were considered in the paper. In particular the last two methods are destined to thickness measurements of micro- and nano- thin layers and surface coatings. Such X-ray non-destructive methods are recommended for practical applications in quality control of production as well as verification of exploitative and operational wear of machine elements.