Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Microstructure, grain refinement and hardness of Al–3%Mg aluminium alloy processed by ECAP with helical die

Snopiński Przemysław, Tański T., Matus K., Rusz S.

Archives of Civil and Mechanical Engineering

|

2019

|

Vol. 19, no. 2

287--296

EN

In the present research, commercial Al–3%Mg aluminium alloy was subjected to the ECAP processing using a modified die with a helical 30° exit channel. The changes in microstructure were characterized by light microscopy, electron backscatter diffraction (EBSD) and TEM. Mechanical properties were compared based on hardness measurement. It is also shown that such modification of ECAP die enhances grain refinement due to the vortex-like flow of metal during subsequent deformations. The results of the metallographic study showed that microstructure is refined due to the interactions and intersections of the deformation bands. The mechanical properties examinations display a significant improvement after the first ECAP pass and less significant increase with subsequent passes.

2

Kompleksowa charakterystyka strukturalna uporządkowanych faz międzymetalicznych

Jezierska E.

Prace Naukowe Politechniki Warszawskiej. Inżynieria Materiałowa

|

2010

|

z. 26

3-194

PL

Badania strukturalne obejmowały kompleksową elektronomikroskopową analizę fazową ze szczególnym uwzględnieniem struktury domen antyfazowych i ich analizy krystalograficznej oraz sposobu rozmieszczenia cząstek i wydzieleń w strukturach wielofazowych. Charakterystyka strukturalna została przeprowadzona zarówno metodami konwencjonalnej mikroskopii i dyfrakcji elektronów, jak też metodami wielokrotnego ciemnego pola, wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej (HRTEM) w jasnym i ciemnym polu (DF HRTEM), krystalografii elektronowej, spektrometrii energodyspersyjnej (EDS) i dyfrakcji w zbieżnej wiązce elektronów przy dużych kątach zbieżności (LACBED). Przedmiotem badań były stopy na bazie uporządkowanych faz międzymetalicznych o różnych nadstrukturach Ni3Al, NiAl, FeAl, Fe3Al, Cu3Au, Al3Ti, Al3Zr. Na podstawie przeprowadzonych badań strukturalnych określono charakter zmian rozkładu wielkości domen antyfazowych oraz ich kształtu w zależności od typu uporządkowania, składu chemicznego i orientacji krystalograficznej. Określono czynniki sprzyjające nadplastyczności w stopach na bazie uporządkowanej fazy międzymetalicznej Fe3Al z uwzględnieniem poślizgu nadstrukturalnego. Uzyskano obrazy HRTEM martenzytu modulowanego, powstającego przez oscylacje płaszczyzn krystalograficznych oraz martenzytycznych struktur wielowarstwowych, typowych dla stopów z pamięcią kształtu, polegających na synchronicznych przesunięciach atomów. Na podstawie komplementarnych badań z różnych technik mikroskopowych określono strukturalne uwarunkowania występowania struktur modulowanych w uporządkowanych fazach międzymetalicznych w stopach Ni-Al, Ni-Al-Cr i Ni-Fe-Ti. Wprowadzono nowatorską koncepcję tensegralności strukturalnej do opisu przemian strukturalnych i samoorganizacji defektów struktury krystalicznej.

EN

Integrated structural characterization of ordered intermetallics and comparison of results for different phases and superstructures were performed by means of transmission electron microscopy. The antiphase domains structure in ordered intermetallics has been examined. Different techniques and methods were used in the study: conventional transmission electron microscopy TEM, electron diffraction, multiple dark field, large angle converged electron diffraction LACBED and high resolution transmission electron microscopy HRTEM. Experimental studies have been carried out in order to evaluate the effect of ordering phenomena for various phases: Ni3Al, NiAl, FeAl, Fe3Al, Cu3Au, Al3Ti, Al3Zr. Nanosized symmetry-related antiphase domains were observed in the studied Ni-Al and Fe-Al alloys after shock-wave deformation and detailed stereological investigation had been performed. Superplastic deformation in Fe3Al alloy was analyzed. Modulated martensite and layered structures were investigated using conventional TEM and HRTEM methods. The methodology of modulated structure recognition was proposed and its application to ordered intermetallics was presented. The concept of structural tensegrity was introduced to describe phase transformation and self-organization of complex defects in crystalline structures.

3

Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych : wpływ struktury materiału oraz parametrów pracy skaningowego mikroskopu elektronowego na jakość obrazów dyfrakcyjnych

Faryna M.

Inżynieria Materiałowa

|

2010

|

Vol. 31, nr 5

1312-1323

PL

W pracy omówiono wpływ szeregu parametrów na jakość obrazów dyfrakcyjnych zarejestrowanych w skaningowym mikroskopie elektronowym zarówno z wysoką, jak i niską próżnią. Najważniejsze parametry to m.in.: atomowy czynnik rozpraszania, czynnik strukturalny, stan sieci krystalicznej, parametry pracy mikroskopu oraz stan powierzchni analizowanej próbki. Obliczono przykładowo czynniki strukturalne dla faz regularnych przestrzennie i ściennie centrowanych. Omówiono znaczenie parametru Ima- ge Quality Factor, który opisuje jakość obrazu dyfrakcyjnego. Podano szereg przykładów analizy tego parametru. Autor zwrócił uwagę na znaczenie odkształcenia sprężystego i plastycznego na jakość obrazu dyfrakcyjnego. Omówił również wpływ rożnych gazów oraz ich zmieniającego się ciśnienia w SEM z niską próżnią na obraz dyfrakcji Kikuchiego oraz powiązał te warunki pracy mikroskopu z rozpraszaniem sprężystym i niesprężystym elektronów wstecznie rozproszonych tworzących stożki Kossela.

EN

The paper summarizes the parameters which affect the quality of Kikuchi patterns acquired in scanning electron microscope operating either in high or low vacuum conditions. Among others things, the most important factors are: atomic scattering factor, structure factor, lattice conditions microscope settings and surface conditions. An example of calculating structure factors for high symmetry structures was also presented. Image Quality Factor as the main parameter describing Kikuchi diffraction was determined and examples of the influence of microscope parameters as well as the sample condition and its preparation on this factor were shown. An application of the EBSD to the analysis of local strains (plastic and elastic) in materials was shortly discussed. Finally, the author draws the readers' attention to the influence of various gases and their increasing pressure in Low Vacuum SEM on the quality of acquired diffraction and correlates this relationship with elastic and inelastic scattering of electrons forming Kossel cones.

4

Opracowanie i wdrożenie nowoczesnych technik i metodyk prześwietleniowej mikroskopii elektronowej

Wojtas J., Wiedermann J., Maciosowski A.

Prace Instytutu Metalurgii Żelaza

|

2006

|

T. 58, nr 3

53-55

PL

Przedstawiana praca ma charakter zarówno metodyczny obejmujący rozszerzenie metody badań nieniszczących, wdrożenie nowoczesnych metod opracowywania wyników badań, jak również obejmuje określenie aktualnych możliwości badawczych lMŻ w zakresie prześwietleniowej mikroskopii elektronowej. Opracowano i wdrożono metodykę badań stanu wydzieleń za pomocą podwójnych replik matrycowych (węglowych), wdrożono program komputerowy do rozwiązywania dyfrakcji elektronowych, wyznaczono aktualną zdolność rozdzielczą mikroskopu JEM 2000FX i określono możliwości wykonywania badań w zakresie mikroskopii wysokorozdzielczej.

EN

This paper deals with incestigation, methodology that includes the expansion of non-destructive testing method and implementation, of modern methods for analysis and elaboration of test results. In addition, it includes determination of the current research abilities of the Institute for Ferrous Metallurgy in the field of transmission electron microscopy. Methodology for investigation of degree of'precipitations using double matrix (carbon) replicas was developed and implemented, computer program for indexing of electron diffractions was implemented, the resolution of JEM 2000FX microscope was determined, and the abilities to perform high-resolution microscopy investigation were determined.

5

Structural and electrophysical properties of MnHgTe layers obtained by laser assisted deposition

Savitsky V., Mansurov L., Kavych V., Krajnyuk G., Lozynska M.

Prace Naukowe. Chemia / Wyższa Szkoła Pedagogiczna w Częstochowie

|

1999

|

Vol. 4

159--164

EN

MnxHg1-xTe(x=0.1-0.13) layers were grown on (111) CdTe substrates by laser assisted deposition; they were characterized by electron diffraction, microprobe analysis, and Hall effect measurements.

PL

Warstwy MnHgTe uzyskano na bazie (111) substratów CdTe w procesie laserowego napylania; scharakteryzowano je za pomocą dyfrakcji elektronowej i mikroanalizy oraz pomiarów efektu Halla.