Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: dyfrakcja Kikuchiego

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A fast ACOM/EBSD system

Schwarzer R.

Archives of Metallurgy and Materials

2008

Vol. 53, iss. 1

5-10

Automated backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope allows the microstructure, crystallography and texture of polycrystalline solids to be characterized on the sub-grain size level. It is about to become a tool for process and quality control. Mandatory requirements for these applications are a high speed and measures to enable re-examination of the results at any time. Separate acquisition and store of sequences of diffraction patterns in a raw data format, followed by off-line calculation of the grain orientations, has distinct advantages over conventional on-line EBSD analysis. Aspects of hardware and software for realizing a fast ACOM/EBSD system are discussed.

Automatyzowana rejestracja dyfrakcji Kikuchiego promieni zwrotnych w elektronowym mikroskopie skaninhowym pozwala na scharakteryzowanie mikrostruktury, krystalografię i teksturę polikrystalicznych ciał stalłch w skali rozmiaru subziaren. Technika to staje się narzędziem kontroli procesów i jakości. Obowiązującą normą dla tych zastosowań to duża szybkość oraz możliwość rewizji wyników w dowolnym czasie. Rozdzielenie akwizycji i przechowania sekwencji dyfraktograrnów w formie danych pierwotnych w połączeniu z obliczeniami off-line orientacji ziarn posiada wyraźną przewagę nad konwencjonalną EBSD analizą on-line. Dyskutowane są aspekty hardwarowe oraz softwarowe dla realizacji szybkiego systemu ACOM/EBSD.