Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2018

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: distribution of light intensity

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wykorzystanie matrycy fotorezystorowej w badaniach rozkładu natężenia oświetlenia w pomieszczeniach

Sowa S., Gielniak J.

Przegląd Elektrotechniczny

2018

R. 94, nr 10

203--206

Badania rozkładu natężenia oświetlenia w pomieszczeniach są pomocne w dobieraniu algorytmów sterowania oświetleniem. Dokładna znajomość parametrów rozkładu oświetlenia, pozwala określić natężenie światła na całej szerokości pomieszczenia oraz umożliwia ustalenie miejsc zainstalowania oraz mocy oświetlenia sztucznego, tak aby uzyskać wymagane natężenie oświetlenia. Dotychczasowe badania były wykonywane ręcznie za pomocą luksomierza. Niedokładności związane z błędami w pomiarach wymusiły opracowanie bardziej niezawodnego sposobu pomiaru jakim jest matryca fotorezystorowa. Niniejszy artykuł przedstawia koncepcję działania całego układu pomiarowego ze szczególnym uwzględnieniem zalet wynikających z nowej metody pomiarowej.

Researches on the lighting distribution in rooms are helpful in the selection of lighting control algorithms. Accurate knowledge of the lighting distribution parameters allows you to determine the light intensity across the entire width of the room, and allows you to determine the locations of the installation and the power of the artificial lighting in order to obtain the desired lighting intensity. The previous tests were carried out manually by using a luxmeter. The inaccuracies caused by measurement errors made it necessary to develop a more reliable method of measurement, a photoresistor matrix. This article outlines the concept of the entire measuring system functionality and focuses on the advantages of this new measurement method.