Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  discontinuities detection
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The paper describes a miniaturized device that records changes in voltage amplitude and signal frequency. After applying the measuring probe to the surface of the tested material, the voltage and frequency amplitude changes. In a place free from defects and nonconformities values of voltage amplitude and frequency are taken as reference values, with which the results obtained during further tests are compared. A clear change in the value of any of the parameters indicates a change in the condition of the tested material. Registration of two parameters with different sensitivity for selected factors allows for a more accurate analysis of the condition of the tested material. The miniaturized device can works in manual measurement mode or in automatic mode, it can be used in defectoscopy, structure and thickness measurements.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.