Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: diody Zenera

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pierwsze polskie przyrządy półprzewodnikowe : z perspektywy 50 lat

Klamka J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 6

40-46

Przedstawiono historię rozwoju pierwszych polskich przyrządów półprzewodnikowych opracowanych przez autora i jego zespół. Dotyczy to głównie diod prostowniczych, diod Zenera, fotodiod oraz różnych przyrządów mikrofalowych (waraktorów, diod lawinowych, diod PIN, diod Gunna, diod Schottky'ego, tranzystorów i podzespołów), wytwarzanych głównie w Pionie Mikrofal Instytutu Technologii Elektronowej.

In the paper, a history of the first semiconductor devices that were designed in Poland by the author and his co-workers, is described. It includes rectifier diodes, Zener diodes, photodiodes and microwave devices (varactors, avalanche diodes, PIN diodes, Gunn diodes, Schottky diodes, transistors and subsystems) - all developed at the Institute of Electron Technology, mainly in the Microwave Division of that Institute.

Badania przebiegu quasi-stałego napięcia elektrycznego w funkcji czasu wprocedurze wzorcowania źródła opartego na diodach Zenera

Sochocka D.

Pomiary Automatyka Kontrola

2002

R. 48, nr 7/8

97-100

W pracy opisano wielkości charakteryzujące przebieg napięcia elektrycznego w funkcji czasu źródeł wykorzystujących diody Zenera oraz sposób wyznaczania tych wielkości. Przeprowadzona analiza pozwala na wybór kryterium i metody szacowania niepewności metodą statystyczną w procedurze wzorcowania źródeł z diodami Zenera. Charakteryzują się one rozkładem napięcia w funkcji czasu pomiaru wskazującym na istnienie szumu typu 1/f o niskiej częstotliwości. Do analizy przebiegu napięcia wykorzystano odchylenie standardowe wartości średniej dla różnej liczby pomiarów i odchylenie Allana dla różnych przedziałów czasu próbkowania. Wyznaczono również rozkłady średnich wartości napięć w róznych przedziałach próbkowania w funkcji czasu pomiaru.

The paper includes the quantities characterising the voltage versus time function of the Zener diode-based standard as well as the methods of calculation these quantities. An analysis presented in the paper enables to choose of the method of the estimation of uncertainty by statistical way. Zener diode-based standard is characterised by the measured voltage vs. time function indicating the existence of the low frequency noise type 1/f. The Allan deviation was used as the best quantity for uncertainty estimate of Zener standards.