Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wykorzystanie wirtualnych przyrządów pomiarowych do diagnozowania układów czwórnikowych

Chudy Z., Kaźmierczak J. Z.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

|

2011

|

Vol. 60, nr 1

147-157

PL

Już od pewnego czasu zaznacza się wyraźna tendencja do tworzenia przyrządów pomiarowych wykorzystywanych w diagnostyce układów elektronicznych o jak największej uniwersalności i elastyczności. Tendencja ta znalazła swoje odzwierciedlenie w konstruowaniu na coraz większą skalę tzw. wirtualnych przyrządów pomiarowych. Celem artykułu jest próba klasyfikacji tego typu przyrządów wśród przyrządów pomiarowych, przedstawienie kryteriów oceny parametrów tych przyrządów oraz prezentacja wykorzystania wirtualnych przyrządów pomiarowych w zintegrowanym systemie diagnostycznym układów czwórnikowych, w szczególności wzmacniaczy i amplifiltrów.

EN

For some time now, a clear tendency for designing versatile measuring devices for diagnostics of electronic circuits can be observed. This tendency results in creation of so-called virtual measuring devices. The aim of this paper is an attempt to find a place of this type of devices in general classification of measuring instruments, presentation of criteria of assessment of their parameters and presentation of applications of virtual measuring devices in an integrated system for diagnostics of amplifiers and amplifilters.

2

Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

Bartosiński B.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

|

2008

|

T. 16

489-494

PL

Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych SCANSTA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4, oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów i uzyskane dokładności. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań w zakresie testowania oraz programowania systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach.

EN

The paper presents a survey of testing busses designed for electronic circuit diagnostics: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled digital circuits. Results of tests are shown from the application of the IEEE 1149.4 bus in measurements of RLC interconnects in electronic printed circuit boards. The tests we re carried out with the use of integrated circuits SCANST A400 equipped with a bus. Measurements we re performed according to methods proposed in the IEEE 1149.4 standard and newly-developed methods oriented at bus testing. The measurement method and the obtained results are presented. The pros and cons of the testing busses and perspectives of their practical application in testing and programming of embedded systems based on microcontrollers are discussed.

3

Fault diagnosis of analog circuits using evolutionary algorithms

Korzybski M.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

2008

|

z. 113

69-74

EN

In this paper new methods for detection, location and identification of multiple faults in linear and nonlinear analog circuits are described. Also a method for finding an optimal set of the test nodes for soft fault diagnosis in linear and nonlinear DC circuits is developed. The methods are based on the node approach and two variants of the evolutionary computing: the genetic algorithms and the gene expression programming.

PL

W pracy zostały przedstawione opracowane przez autora metody diagnostyki analogowych układów elektronicznych przeznaczone dla uszkodzeń parametrycznych, wykorzystujące ewolucyjne metody obliczeniowe. 1. Metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie detekcji i lokalizacji koncepcje programowania liniowego, a w procesie identyfikacji algorytmy genetyczne. 2. Metoda optymalizacji zbioru węzłów testowych dla diagnostyki uszkodzeń parametrycznych wykorzystująca algorytmu genetyczne. 3. Słownikowa metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie tworzenia słownika ewolucyjny algorytm: gene expression programming. Efektywność wszystkich metod została zweryfikowana w zamieszczonych w pracy przykładach.

4

Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych

Kurowski I., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2007

|

Vol. 48, nr 11

37-39

PL

Przedmiotem artykułu jest system diagnostyczny służący do lokalizacji pojedynczych uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Na etapie przedtestowym dla diagnozowanego układu elektronicznego skonstruowano słownik uszkodzeń na podstawie symulacji komputerowych dla każdego analizowanego stanu obwodu. Jako pobudzenie wykorzystano zarówno zasilanie układu, jak i podawany na wejście obwodu sygnał sinusoidalny. Na wyjściu badanego obwodu mierzono moduł i fazę napięcia. Zespół dwóch sieci neuronowych o radialnych funkcjach bazowych został użyty jako klasyfikator uszkodzeń (katastroficznych i parametrycznych). Odpowiedź końcową dwóch równolegle połączonych sieci neuronowych wyznaczono z wykorzystaniem przestrzeni BKS (Behavior Knowledge Space).

EN

This paper presents a diagnostic system created for localization of faults in analog electronic circuits. The system is based on dictionary method. As stimu oflation signals, dc supply voltage and sinusoidal input signal have been used. The frequency of sinusoidal signal is variable. Voltages and phases in output of the circuit are measured to create dictionary of faults. Radial Basis Function (RBF) neural networks were used as neural classifiers. Behavior Knowledge Space (BKS) was used to find the optimum final answer of parallel classifiers. Software which has been used to generate teaching-testing files had been created in Borland Delphi. Simulations of electronic circuits have been realized by SPICE. Software, used to simulate neural classifiers has been created in Matlab.

5

Zastosowanie metod odkrywania wiedzy do lokalizacji uszkodzeń katastroficznych w analogowych układach elektronicznych

Koszlaga J., Strumiłło P.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2005

|

R. 51, nr 9 bis

154--156

PL

Opracowano metodę odkrywania wiedzy do diagnostyki analogowych układów elektronicznych. W opisanej metodzie wykorzystano równoważność funkcjonalną pomiędzy siecią neuronową o radialnych funkcjach bazowych, a układem rozmytym typu Takagi-Sugeno. Zaproponowana procedura diagnostyczna umożliwia automatyczne konstruowanie słownika wiążącego zależności pomiędzy symptomami a uszkodzeniami układu elektronicznego. Metodę przetestowano dla danych zebranych z analizy stałoprądowej układów elektronicznych oraz dla dziedziny czasu (stany nieustalone). Otrzymane słowniki umożliwiły skuteczną lokalizację uszkodzeń katastroficznych w układzie filtru aktywnego oraz tranzystorowego wzmacniacza wideo.

EN

A data mining procedure is proposed for diagnosis of analogue electronic circuits. Radial Basis Functions Neural Network was used for knowledge acquisition, then the trained network was converted to Takagi-Sugeno fuzzy system so obtaining rule-base representation of the problem. The proposed procedure enables automatic construction of a dictionary that links faults and its symptoms in tested circuits. The method was validated on DC and time domain analyses. The generated fault dictionaries proved efficient in localizing catastrophic faults in the two tested electronic circuits: an active filter and two-stage transistor video amplifier.

6

Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą

Borkowska M., Gonera M., Kern J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2002

|

Vol. 43, nr 12

8-11

PL

Omówiono diagnostykę współczesnych układów elektronicznych poprzez wprowadzenie do konstrukcji struktur ułatwionego testowania. Przedstawiono architekturę magistral testujących serii IEEE 1149. Omówiono prace prowadzone w PIE w zakresie własności i aplikacji tej magistrali.

EN

Problems of the diagnostics of the modern electronic circuits and the way to solve them by means of design for testability structures are presented. The architecture of the test buses IEEE 1149 series is shown. Properties of the bus and their applications are the subject of the works in the Industrial Institute of Electronics. The results are presented.