Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Journal of KONBiN

1 2018

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: diagnostyka układów cyfrowych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Laboratory station for reliability testing of digital circuits using signature analysis

Jadczak K., Białek R.

Journal of KONBiN

2018

No. 45

165--182

The article presented a laboratory station for diagnosing the digital circuits and the test results on the basis of a selected example. The idea of a response compression technique, which is called an analysis of signatures, was demonstrated. The main element of the station includes 8-bit programme of an analyser of signatures, which was developed by the authors, and implemented in the LabVIEW environment with the use of NI 6008 data analysis module. The programme operation was tested on the selected digital circuit, and the obtained results were provided in the article.

W artykule zaprezentowano stanowisko laboratoryjne do diagnozowania układów cyfrowych oraz wyniki badań na wybranym przykładzie. Zaprezentowano ideę techniki kompresji odpowiedzi zwaną analizą sygnatur. Głównym elementem stanowiska jest opracowany przez autorów program 8-bitowego analizatora sygnatur wykonany w środowisku LabVIEW z wykorzystaniem modułu analizy danych NI 6008. Działanie programu przetestowano na wybranym układzie cyfrowym, a otrzymane wyniki zamieszczono w artykule.