Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Multiple soft fault diagnosis of analog circuits using restart homotopy method

Tadeusiewicz M., Hałgas S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 12

87-91

EN

This paper offers a method for multiple soft fault diagnosis of nonlinear circuits containing bipolar and MOS transistors. The method enables us to locate faulty elements and evaluate their parameters, using a nonlinear algebraic type test equation which may possess several solutions. To find the solutions the homotopy concept is applied and a homotopy differential equation written. Next the terminal value problem is formulated and solved using the restart approach. As a result different sets of parameters which satisfy the diagnostic test can be found rather than one specific set. Two numerical examples show that the proposed approach is simple and improves the diagnosis of analog circuits.

PL

Praca dotyczy diagnostyki wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych w układach nieliniowych zawierających tranzystory bipolarne i tranzystory MOS. Zaproponowano metodę umożliwiającą lokalizowanie uszkodzonych elementów i określanie ich wartości na podstawie analizy testowego, nieliniowego równania algebraicznego, które może posiadać wielokrotne rozwiązania. W celu wyznaczenia tych rozwiązań zastosowano koncepcję homotopii i utworzono homotopijne równanie różniczkowe. Sformułowano zagadnienie końcowe i rozwiązano je numerycznie używając procedurę restartu. Takie podejście umożliwia znalezienie różnych zbiorów wartości elementów potencjalnie uszkodzonych, które spełniają test diagnostyczny. Zamieszczone w pracy dwa przykłady obliczeniowe pokazują, że zaproponowana metoda jest prosta, nie wymaga dużych mocy obliczeniowych oraz usprawnia diagnostykę analogowych układów nieliniowych.

2

Dobór pobudzenia testującego PWL za pomocą algorytmu SA z neuronową funkcją celu

Grzechca D.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2012

|

R. 88, nr 11b

64-67

PL

W artykule przedstawiono sposób doboru pobudzenia testującego dla analogowego układu elektronicznego z wykorzystaniem algorytmu symulowanego wyżarzania (SA) z funkcją celu opartą na samoorganizującej się sztucznej sieci neuronowej (SOM). Podstawowym celem metody jest wykrycie wszelkich pojedynczych uszkodzeń parametrycznych za pomocą sygnałów mierzonych w 3 węzłach dostępnych z zewnątrz układu. Optymalizacji podlega odcinkami liniowy kształt napięcia, który podawany jest na wejście układu filtra. W artykule przedstawiono ideę wykorzystania hybrydowej metody optymalizacyjnej, która przeszukuje przestrzeń rozwiązań za pomocą algorytmu SA, natomiast ocena rozwiązania dokonywana jest na podstawie analizy SOM. Zaprojektowano pobudzenie wejściowe dla filtru aktywnego Sellen-Key’a, a ponadto przeanalizowano skuteczność metody dla różnych modeli uszkodzeń parametrycznych. Wyniki symulacji wskazują na wysoką skuteczność proponowanej metody.

EN

The paper presents a selection of the PWL test excitation for analog electronic circuit using the simulated annealing algorithm (SA) with the objective function based on self-organizing artificial neural network (SOM). The primary objective of the method is to detect any single parametric fault using signals measured at three outer accessible nodes of the system. Optimization is subjected to PWL input voltage which is fed to the input of the filter. The idea of a hybrid optimization method consists of SA algorithm (searches the space of solution) but the assessment is based on SOM analysis. It has been designed test stimuli for the filter Sellen-Key, and analyzed the effectiveness of this method for various parametric fault models. The simulation results indicate the high effectiveness of the proposed method.

3

Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych

Zielonko R., Kowalewski M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2008

|

R. 54, nr 3

174-177

PL

W artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z siecią zawierającą jedno-centrowe radialne funkcje bazowe (RFB). Opisano 2 metody konstrukcji słownika uszkodzeń, w postaci rozproszonych krzywych identyfika-cyjnych, wykorzystujące transformację biliniową oraz analizę składowych głównych. Metodę zilustrowano na przykładzie diagnostyki 2 prostych układów analogowych. Może ona być stosowana do diagnozowania innych obiektów technicznych.

EN

In this paper a new metrologically oriented neural network and method for parametric fault localization and rough identification are presented. The characteristic feature of the network is application of new two-center radial basis functions in the hidden layer. In result, the better classification accuracy, as well as robustness against non-faulty component tolerances and measurement errors has been obtained, in comparison with known Radial Basis Function neural network. Two construction methods of fault dictionary in the form of dispersed identification curves are described: bilinear transformation and principal component analysis methods. The diagnosis method was illustrated on the exemplary 2 analog circuits. It can be used for diagnosis of other technical objects.

4

Ewolucyjny dobór częstotliwości sygnałów testujących z rozmytą inicjalizacją systemu

Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2007

|

Vol. 48, nr 11

72-75

PL

Przedstawiono ewolucyjną metodę optymalizacji zestawu częstotliwości dla sinusoidalnych pobudzeń, testujących analogowe układy elektroniczne. Proponowana technika wykorzystuje zbiory niejednoznaczności i zmodyfikowany algorytm genetyczny z funkcją przystosowania wykorzystującą zestaw reguł eksperckich systemu rozmytego oraz metodą ważoną. Prezentowane rozwiązanie pozwala uzystać wysoką skuteczność dla praktycznych obwodów z uwzględnieniem rozrzutu tolerancyjnego i błędów pomiarowych. Algorytm został zaimplementowany z wykorzystaniem procesora wbudowanego MicroBlaze na platformie Virtex4 ML-401.

EN

The evolutionary technique of test frequencies selection for analog sinusoidal stimuli set is described in this paper. The proposed method bases on ambiguity set concept and evolutionary algorithm that has been executed for fuzzy and weighted fitness functions. The proposed approach to analog testing allows to achieve high efficiency for practical circuits under test with tolerance dispersions and test inaccuracies presence. Optimization system has been implemented with the use of the MicroBlaze embedded processor on Virtex4 ML-401 platform.

5

Some methods of diagnosis of analog circuits using mixed signal test bu IEEE 1149.4

Bartosiński B., Toczek W.

Metrology and Measurement Systems

|

2003

|

Vol. 10, nr 2

157-172

EN

The paper considers the problem of using the mixed signal test bus IEEE Std 1149.4 infrastructure for the diagnosis of analog PCB interconnects. Three types of interconnects between ICs are investigated: simple type T or [pi] structures, multi-element circuits and multistage circuits. Three diagnostic methods are proposed: a computer-aided analytical method based on Tellegen's theorem, a bilinear transformation method and oscillation-based method. The Matsushita Analog Boundary Test LSI MNABST-1 circuit equipped with the IEEE 1149.4 test bus was used in this research. The methodology of tests and some results of fault identification are presented.

PL

W artykule przedstawiono wybrane metody testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych zamontowanych na pakiecie pomiędzy układami scalonymi wyposażonymi w magistralę IEEE 1149.4. Prezentowane metody dobrano pod kątem stopnia skomplikowania układów testowanych oraz specyficznych właściwości metrologicznych magistrali, które ograniczają możliwości pomiarowe i aplikacyjność metod. Rozważono trzy typy układów testowanych: proste struktury typu [pi] lub T, układy wieloelementowe oraz układy wielostopniowe, dla których zastosowano, odpowiednio, metodę wykorzystującą twierdzenie Tellegena, metodę transformacji biliniowej oraz metodę przekształcania w układy oscylujące. Wykorzystując twierdzenie Tellegena dokonano identyfikacji struktur typu [pi] i T bazując na niepełnych danych pomiarowych uzupełniając je wynikami symulacji komputerowej. Przedstawiono wyniki wdrożenia metody transformacji biliniowej z użyciem ubogiej dwuprzewodowej struktury szyny analogowej magistrali. Wykazano przydatność metody oscylacyjnej do testowania za pomocą magistrali, układów o strukturze wielostopniowej bez potrzeby stosowania źródła sygnału pomiarowego. Infrastruktura magistrali umożliwiła separację poszczególnych stopni układu, dostęp do ich wejść i wyjść oraz zamknięcie pętli sprzężenia zwrotnego. Omówione metody wdrożono wykorzystując wyposażony w magistralę układ testowy MNABST-1 firmy Matsushita. Przeprowadzone eksperymenty potwierdziły możliwość wykorzystania magistrali do realizacji funkcji komutacyjnych i organizacyjnych: dołączania zewnętrznego oprzyrządowania testu, zmiany warunków pracy układu na czas testowania, transformacji funkcjonalnej testowanego układu oraz zwiększenia obserwowalności układu wielostopniowego.