Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: diagnostyka powierzchni

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Diagnostyka powierzchni z zastosowaniem sieci neuronowych

Mikołajczyk T.

Diagnostyka

2005

Vol. 33

281--284

W pracy przedstawiono zrealizowany w Katedrze Inżynierii Produkcji ATR Bydgoszcz układ do pomiaru stanu powierzchni metodą reflektometryczną. Opracowany układ zawiera oświetlacz laserowy i odbiornik w postaci diody. Sygnał z diody przesyłany jest do komputera przez kartę AC. W systemie analizy sygnału zastosowano sieć neuronową, którą zastosowano do skalowania układu. Dodatkowymi wejściami sieci są parametry technologiczne procesu. Uzyskane wyniki wskazują na poprawne działanie układu i możliwość jego praktycznego zastosowania do bezstykowej oceny stanu powierzchni.

In work presents system to surface roughness measure with reflectometric method, realized in Department of Production Engineering Technical & Agriculture University from Bydgoszcz of Poland. The results of reflectometric measure with feed and circle nose edge was used by neural network to investigations influence this parameters on surface roughness parameter. The useful neural network to scaling presented reflectometric stand was defined.

Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur

Sikora A., Gotszalk T., Szeloch R., Radojewski J., Sankowska A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2003

Vol. 44, nr 8-9

49-51

W artykule omówiono konstrukcję modularnego mikroskopu "Shear force" z interferometryczną detekcją drgań ostrza skanującego umożliwiającego pomiar właściwości elektrycznych próbki w skali pojedynczych nanometrów. Przedstawiono także wstępne wyniki badań topografii i lokalnego prądu emisji wykonanych przy użyciu niniejszego mikroskopu.

We describe here AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular Shearforce/Tunneling Microscope for surface topography measurement and local current emission is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer used for the measurement of the conductive microtip oscillation. An advantage of this system its that quantitative measurements of tip vibration amplitude are easily performed. Current emission from the tip renders it possible to nanostructures fabrication by local surface anodisation process. It is also possible to investigate a local electrical surface parameters together with topography measurements.

Kierunki usprawnienia diagnostyki nawierzchni kolejowej

Bułach H.

Przegląd Kolejowy

1998

Nr 12

4-11