Wyniki pomiarów szumów małoczęstotliwościowych różnych obiektów stanowią cenne narzędzie diagnostyki jakości tych obiektów. W pracy przedstawiono system umożliwiajacy przeprowadzenie takich pomiarów, zwłaszcza elementów (w tym elementów półprzewodnikowych mocy) i układów elektronicznych, ale również szumów elektrochemicznych towarzyszących procesom korozji. Zastosowanie automatyczngo układu polaryzacji badanych przyrządów półprzewodnikowych jest szczególnie przydatne przy zastosowaniu systemu do pomiarów ostrzowych tych przyrządów. System może być równeż wykorzystany w wielu innych dziedzinach, m.in. do pomiarów i klasyfikacji oraz identyfikacji niestacjonarnych sygnałów emisji akustycznej w ramach metod nieniszczącego testowania struktur i obiektów.
EN
The low-frequency noise measurements of different objects can be a valuable tool for the quality diagnostics of these objects. The system enabling realization of such measurements, especially for electronic elements (also for power semiconductor devices) and devices, but also for electrochemical noise associated with corrosion processes, has been presented. The application of programmable biasing system for measured semiconductor devices is especially helpful in the system for on-wafer measurements of semiconductors. The system can be also used in other areas of applications, among others for measurements, identification and classification of nonstationary signals of the acoustic emission used in methods of nondestructive testing of structures and objects.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.