Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  diagnostics of electronic circuits
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Omówiono diagnostykę współczesnych układów elektronicznych poprzez wprowadzenie do konstrukcji struktur ułatwionego testowania. Przedstawiono architekturę magistral testujących serii IEEE 1149. Omówiono prace prowadzone w PIE w zakresie własności i aplikacji tej magistrali.
EN
Problems of the diagnostics of the modern electronic circuits and the way to solve them by means of design for testability structures are presented. The architecture of the test buses IEEE 1149 series is shown. Properties of the bus and their applications are the subject of the works in the Industrial Institute of Electronics. The results are presented.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.