Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Fault diagnosis of analog circuits using evolutionary algorithms

Korzybski M.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

2008

|

z. 113

69-74

EN

In this paper new methods for detection, location and identification of multiple faults in linear and nonlinear analog circuits are described. Also a method for finding an optimal set of the test nodes for soft fault diagnosis in linear and nonlinear DC circuits is developed. The methods are based on the node approach and two variants of the evolutionary computing: the genetic algorithms and the gene expression programming.

PL

W pracy zostały przedstawione opracowane przez autora metody diagnostyki analogowych układów elektronicznych przeznaczone dla uszkodzeń parametrycznych, wykorzystujące ewolucyjne metody obliczeniowe. 1. Metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie detekcji i lokalizacji koncepcje programowania liniowego, a w procesie identyfikacji algorytmy genetyczne. 2. Metoda optymalizacji zbioru węzłów testowych dla diagnostyki uszkodzeń parametrycznych wykorzystująca algorytmu genetyczne. 3. Słownikowa metoda detekcji, lokalizacji oraz identyfikacji wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych dla liniowych i nieliniowych obwodów DC oraz obwodów AC wykorzystująca w procesie tworzenia słownika ewolucyjny algorytm: gene expression programming. Efektywność wszystkich metod została zweryfikowana w zamieszczonych w pracy przykładach.

2

Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych

Zielonko R., Kowalewski M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2008

|

R. 54, nr 3

174-177

PL

W artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z siecią zawierającą jedno-centrowe radialne funkcje bazowe (RFB). Opisano 2 metody konstrukcji słownika uszkodzeń, w postaci rozproszonych krzywych identyfika-cyjnych, wykorzystujące transformację biliniową oraz analizę składowych głównych. Metodę zilustrowano na przykładzie diagnostyki 2 prostych układów analogowych. Może ona być stosowana do diagnozowania innych obiektów technicznych.

EN

In this paper a new metrologically oriented neural network and method for parametric fault localization and rough identification are presented. The characteristic feature of the network is application of new two-center radial basis functions in the hidden layer. In result, the better classification accuracy, as well as robustness against non-faulty component tolerances and measurement errors has been obtained, in comparison with known Radial Basis Function neural network. Two construction methods of fault dictionary in the form of dispersed identification curves are described: bilinear transformation and principal component analysis methods. The diagnosis method was illustrated on the exemplary 2 analog circuits. It can be used for diagnosis of other technical objects.

3

Method for fault diagnosis of nonlinear analog circuits piecewise linear type

Robotycki A., Zielonko R.

Prace Naukowe Instytutu Górnictwa Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

|

1999

|

Vol. 86, nr 24

218-223

EN

The paper deals with fault location of the PWL type analog circuits based on verification approach and hybrid equations. In the first part of the paper the diagnostic equation, fault models and algorithm of the method are described. For verification of fault hypothesis the residual square sum criterion is applied. Theoretical considerations have been illustrated by example of single fault diagnosis of the three-stage transistor amplifier. The method could be used also to diagnosis of circuits with multiple faults.

4

Diagnosis of analog electronic circuits using modified oscillation - test method

Toczek W.

Prace Naukowe Instytutu Górnictwa Politechniki Wrocławskiej. Konferencje

|

1999

|

Vol. 86, nr 24

237-242

EN

A new test method for analog circuits based on the oscillation-test approach is presented. For fault detection purpose the circuit under test (CUT) is forced to oscillation, which parameters are monitored. Existing faults in the CUT manifest themselves as deviations of the measured diagnostic signal parameters, or result in the loss of oscillation. The novelty of presented method is a testing oscillatory circuit with automatic amplitude control. The proposed circuit enables not only frequency measurements but also examination of variations in the amplitude step response parameters: rise time and steady-state error, that indicate faulty behaviour of the CUT. Combining measurements of frequency, time and voltage result in the improved fault coverage.