Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: device integration

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Integracja centrali alarmowej firmy Satel ze sterownikiem PLC firmy Siemens

Majewski Radosław, Suproniuk Marek

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2022

Vol. 63, Nr 3

29--33

Artykuł powstał w oparciu o pracę dyplomową zrealizowaną przez studenta Wojskowej Akademii Technicznej. W niniejszej publikacji zawarto opis sposobu integracji centrali alarmowej firmy Satel ze sterownikiem PLC firmy Siemens wykorzystanego podczas realizacji zadania dyplomowego przez studenta Wydziału Elektroniki oraz szczegółowy opis otwartego protokołu komunikacyjnego udostępnionego przez firmę Satel, przez który urządzenia zostały zintegrowane. W formie graficznej przedstawiono uzyskane funkcjonalności zbudowanego układu integracji. Zaproponowane zostały przykłady zastosowania wykonanej integracji oraz możliwości jej rozbudowy.

The article is based on a thesis made by a student of the Military University of Technology. This publication contains a description of how to integrate the Satel alarm control panel with a Siemens PLC controller made by student of the Electronics Faculty and a detailed description of the Satel open communication protocol through which the devices were integrated. The obtained functionalities of the built integration system are presented in graphic form. Examples of the application of the performed integration and the possibility of its extension were proposed.

Challenges in scaling of CMOS devices towards 65 nm node

Jurczak M., Veloso A., Rooyackers R., Augendre E., Mertens S., Rotschild A., Scaekers M., Lindsay R., Lauwers A., Henson K., Severi S., Pollentier I., Keersgieter de A.

Journal of Telecommunications and Information Technology

2005

nr 1

3-6

The current trend in scaling transistor gate length below 60 nm is posing great challenges both related to process technology and circuit/system design. From the process technology point of view it is becoming increasingly difficult to continue scaling in traditional way due to fundamental limitations like resolution, quantum effects or random fluctuations. In turn, this has an important impact on electrical device specifications especially leakage current and the circuit power dissipation.