Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: detektory NIR

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania półprzewodnikowych detektorów promieniowania optycznego

Ćwirko J., Ćwirko R.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 9a

166-171

Detektory UV, VIS i NIR są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. Prezentowany w artykule system pomiarowy jest przeznaczony głównie do wysokotemperaturowych pomiarów charakterystyk widmowych detektorów. Pomiary detektorów zostały przeprowadzone w zakresie od temperatury otoczenia do 200 (stopni)C.

UV, VIS ad NIR detectors are used in scientific research and industrial and military applications. Measurement system used for spectral characteristic high-temperature measurements of UV, VIS and NIR is presented in the paper. Measurement can be carried from ambient temperature to 200oC.

Wpływ wysokiej temperatury na przebieg charakterystyk widmowych detektorów

Ćwirko R., Ćwirko J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 10

70-73

Detektory UV, VIS i NIR są używane w pracach badawczych, przemyśle i aplikacjach wojskowych. Prezentowany w artykule system badawczy jest przeznaczony głównie do wysokotemperaturowych pomiarów charakterystyk widmowych detektorów w zakresach UV, VIS i NIR. System został opracowany w Wojskowej Akademii Technicznej. W artykule przedstawiono wyniki zależności charakterystyk widmowych od temperatury dla detektorów wykrywających zakres UV i wykonanych z Si i 4H-SiC.

UV, VIS i NIR detectors are used in scientific research and industrial and military applications. Measurement system used for spectral characteristic high-temperature measurements of UV, VIS and NIR is presented in the paper. The system was developed in the Military University of Technology (MUT). We present the results of a comprehensive study of the temperature dependences of the spectral characteristics for ultraviolet detectors based on Si and 4H-SiC structures. Measurement can be carried out in temperature range - from ambient temperature to 200°C.