Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  dependable embedded systems
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The paper focuses on gaps in design and test technology for dependable embedded systems. Possible gaps in design may influence system behavior and as the result final product may not fulfill all requirements or some of desired properties. Test phase is also important as it may indicate even subtle errors which occurred in previous phases. The article presents possible solutions to improve the design and test technology. Model checking technique can be used for formal verification of specification in design phase. Testing phase can involve independent tester teams.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.