Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: defect density

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Junction configurations and their impacts on Cu(In,Ga)Se₂ based solar cells performances

Guirdjebaye N., Ouédraogo Soumaila, Ngoupo Ariel, Tcheum G. L., Ndjaka Jean Marie Bienvenu

Opto-Electronics Review

2019

Vol. 27, No. 1

70--78

One dimension solar cells simulator package (SCAPS) is used to study the possibility of carrying out thin CIGS solar cells with high and stable efficiency. In the first step, we modified the conventional ZnO:B/i-ZnO/CdS/SDL/CIGS/Mo structure by substituting the SDL layer with the P₊ layer, having a wide bandgap from 1 to l.12 eV. Then, we simulated the J-V characteristics of this new structure and showed how the electrical parameters are affected. Conversion efficiency of 18.46% is founded by using 1.1 μm of P + layer thickness. Secondly, we analyze the effect of increase thickness and doping density of CIGS, CdS and P₊ layers on the electric parameters of this new structure. We show that only the short-circuit current density (JSC) and efficiency are improved, reaching respectively 34.68 mA/cm2 and 18.85%, with increasing of the acceptors density. Finally, we introduced 10 nm of various electron reflectors at the CIGS/Mo interface in the new structure to reduce the recombination of minority carriers at the back contact. High conversion efficiency of 23.34% and better stability are obtained when wide band-gap BSF is used.

Ekonomiczny model badań niezawodnościowych goi

Yang S. F., Chien K. W-T

Eksploatacja i Niezawodność

2010

nr 2

79-82

This paper studies the methods and guidelines in minimum sample size determination provided by JEDEC/ FSA joint publication and points out their drawbacks, inconsistency, and misguidance. We provide an exact method and easy-to-use numerical solution by extending JEDEC's formula to any allowed failure number, target defect density, and confi dence level. Important guidelines are also provided for reliability practitioners to reduce possible errors resulting from imperfect sampling procedures and to avoid mistakes in defect density evaluation against a target defect density (D0). Our proposed method can be applied to any reliability tests with the binomial distribution to determine a minimum sample size to save wafers and testing resources.

Niniejsza praca analizuje metody i wytyczne dotyczące wyznaczania minimalnego rozmiaru próbki podane we wspólnej publikacji JEDEC/ FSA, wskazując na ich wady, niekonsekwencje i błędne wskazówki. W artykule podajemy dokładne i łatwe w użyciu rozwiązanie, które rozciąga wzór JEDEC na wszelką dozwoloną liczbę uszkodzeń, dopuszczalną gęstość defektów i poziom ufności. Przedstawiamy również ważne wytyczne dla specjalistów w zakresie niezawodności pozwalające zredukować możliwe błędy wynikające z niedoskonałych procedur próbkowania oraz uniknąć pomyłek w ocenie gęstości defektów względem dopuszczalnej gęstości defektów (D0). Proponowana przez nas metoda może być stosowana we wszelkich testach niezawodnościowych z rozkładem dwumianowym do wyznaczania minimalnego rozmiaru próbki przy oszczędnym użyciu płytek i środków badawczych.