Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: czujnik hallotronowy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Czujnik do pomiaru drgań mechanicznych z przetwornikiem elektromagnetycznym

Rybak M., Prohuń T., Gołębiowski J.

Przegląd Włókienniczy - Włókno, Odzież, Skóra

2007

nr 12

39-41

The construction of the rectangular silicon beam with mass and the by electromagnetic transducer was described. In the silicon microsystem aluminium electrodes pattern on the beam surface was applied. The current flow by electromagnetk transducer produce magnetic field. Transducer magnetic field influence on Hall sensor. The beam vibrations caused change distance between transducer position by Hall sensor. The analysis of electromechanical system with electromagnetic transducer for low range frequency. The method of the finite elements was applied to the analysis of the microsystem. The resuits for the silicon beam, which were calculated by means of ANSYS programme are presented and discussed.

Badanie rozkładu pola magnetycznego za pomocą hallotronu ze wspomaganiem komputerowym

Ratyńska J., Cioć R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2006

Vol. 47, nr 5

50-52

Opisano wykorzystanie czujnika hallotronowego do badania rozkładu pola magnetycznego ze wspomaganiem komputerowym. Program komputerowy został oparty na środowisku programowym VEE Pro, co pozwala na projektowanie w środowisku będącym połączeniem środowiska graficznego i tekstowego. Przedstawiony sposób modelowania systemu pomiarowego umożliwia realizację nowoczesnych aplikacji pomiarowych wykorzystujących rzeczywiste i wirtualne urządzenia pomiarowe.

In the article there has been presented an application of hallotron sensorfor testing magnetic field distribution with computer aid. Computer program has been realized in VEE Pro programming environment. Presented way of modeling the measuring system makes it possible to realize new measuring applications with use of virtual and real devices.