Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: czas ustalania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Influence of methods for noise reduction on dynamic characteristics of active resistance imitators

Hotra O., Bojko O., Majewski J.

Pomiary Automatyka Kontrola

2008

R. 54, nr 10

733-736

The influence of normal mode noise on the accuracy of transmission of standard resistance units using active resistance imitators is analysed. Also the influence of selected methods of noise attenuation on dynamic characteristics of active resistance imitators is investigated. The dynamic errors and transition time of input signals are determined. The investigation results show that the optimisation of the noise reduction and of the dynamic characteristics of active resistance imitators under real industrial conditions is possible by the appropriate selection of frequency-dependent elements.

Przeanalizowano wpływ zakłóceń równoległych na dokładność przekazywania jednostkowej miary wzorca rezystancji za pomocą aktywnych imitatorów rezystancji. Przebadano wpływ wybranych metod tłumienia zakłóceń na charakterystyki dynamiczne aktywnych imitatorów rezystancji. Wyznaczono błędy dynamiczne oraz czas ustalania wartości sygnałów wejściowych. Wyniki badań wykazały, że możliwa jest optymalizacja odporności na zakłócenia i charakterystyk dynamicznych aktywnych imitatorów rezystancji w roboczych warunkach eksploatacji poprzez odpowiedni dobór elementów zależnych od częstotliwości.

Badanie fluktuacji czasu ustalania przerzutnika

Grzelak S., Zieliński M., Chaberski D., Wydźgowski L.

Pomiary Automatyka Kontrola

2007

R. 53, nr 9 bis

695--697

Zjawisko metastabilności występujące w przerzutnikach podzielono na dwa różne efekty. Pierwszy dotyczy zwiększonego czasu propagacji, a drugi przypadkowości w ustalaniu stanu wyjściowego. Przedstawiono uogólniony model przerzutnika typu D wyzwalanego zboczem. Zaproponowano metodę pomiaru dodatkowego parametru zinterpretowanego jako poziom fluktuacji czasu ustalania, dla wprowadzonego modelu. Przeprowadzono pomiary przerzutników zaimplementowanych w strukturze FPGA wykonanej w technologii 180 nm. Wartość wprowadzonego parametru w modelu ma znaczenie w wysokorozdzielczej metrologii odcinków czasowych i może wpływać na sumaryczny błąd losowy mierzonego odcinka czasu.

The metastability effect is discussed in this paper as two separated effects. The first concerns the increase of the propagation time and the second concerns the random character of output states. The generalized model of the flip-flop was introduced. The measurements method of the setup time fluctuation is presented. The results of measurements for the flip-flops implemented in the FPGA structure are also discussed.