PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  czas życia nośników ładunku
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Wyznaczanie czasu życia nośników ładunku w płytkach krzemowych z pomiaru absorpcji na nośnikach swobodnych
Piotrowski T., Kasjaniuk S.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 9
100-102
PL
Przedstawiono metodykę określania czasu życia nośników ładunku, wykorzystującą pomiar absorpcji optycznej nośników swobodnych w podczerwieni, pozwalającą na szybki, bezdotykowy i przeprowadzany z dużą rozdzielczością przestrzenną pomiar tego głównego parametru rekombinacyjnego. Metodyka ta uzupełnia dotychczas stosowane bezdotykowe metody pomiarowe czasu życia nośników ładunku stosowane w diagnostyce przemysłowej a może znaleźć szczególne zastosowanie do charakteryzacji multikrystalicznego krzemu.
EN
A method of charge carrier lifetime determination by using free carriers absorption measurement is presented. The method is quick, contactless and has good spatial resolution. It complements known contactless lifetime measurement methods applied in industry diagnostics and can be especially useful for multicrystalline silicon characterization.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.