Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Metrology and Measurement Systems

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: cykliczne przetworniki analogowo-cyfrowe

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of influence of internal converters nonlinearity on intelligent cyclic ADC performance

Jędrzejewski K., Platonov A. A.

Metrology and Measurement Systems

2005

Vol. 12, nr 4

343-353

The task of the paper is the presentation of a modelling approach to quantitative analysis of the influence of internal converter nonlinearities on the performance of sub-optimal intelligent cyclic A/D coverters (IC ADCs) developed and analysed in works [1-5] and others. The results of investigations permit to determine requirements to the analogue elements of IC ADC architecture, first of all to an internal low-bit A/D converter (ADCIn), which is the most crucial for the design and practical implementation of IC ADC.

Celem niniejszego artykułu jest zaprezentowanie efektywnego podejścia do ilościowej i jakościowej analizy wpływu nieliniowości wewnętrznych przetworników ADCIn na jakość pracy sub-optymaInych cyklicznych przetworników analogowo cyfrowych (IC ADC) należących do nowej klasy przetworników A/C zaproponowanych i badanych w [1-5, 12, 13] i innych pracach. Wyniki przeprowadzonych badań pokazują, że w pewnym zakresie odchylenia charakterystyki przejściowej wewnętrznych przetworników ADCIn od jej nominalnej postaci (w przedstawionych eksperymentach do około 0.6-0.7 [LSB] w zależności od rozdzielczości przetwornika) nie wpływają na jakość pracy sub-optymaInych IC ADC. Eksperymenty potwierdziły stabilność empirycznych wartości ENOB, THD, SINAD w dość szerokim zakresie zmian całkowitej i różnicowej nieliniowości ADCIn. Zaproponowana w pracy metoda analizy symulacyjnej pozwala na ocenę granic odpowiednich przedziałów tolerancji, co z kolei pozwala obniżyć wymagania technologiczne oraz obniżyć koszty produkcji wewnętrznych przetworników ADCIn, a co za tym idzie obniża ogólne koszty produkcji IC ADC.