Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Overheat security system for high speed embedded systems

Frankiewicz M., Gołda A., Kos A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2012

|

Vol. 53, nr 12

24-26

EN

The paper describes basics and design of the Temperature-Controlled Oscillator for high frequency processors which work is based on information of present chip temperature. The task of the circuit is to stabilise required value of temperature of the silicon die and ensure safe work of the processor. The circuit consists of: temperature sensor, ring oscillator and some additional blocks to control the circuit behaviour. The prototype chip was designed and fabricated in LF CMOS 0.15 um (1.8 V) technology and is cooperating with an 8-bit OctaLynx microcontroller.

PL

Artykuł opisuje podstawy działania i projekt Generatora Przestrajanego Temperaturą przeznaczonego dla szybkich procesorów, którego praca opiera się na informacji o aktualnej temperaturze. Celem układu jest stabilizacja temperatury i zapewnienie bezpiecznej pracy procesora. Układ składa się z czujnika temperatury, oscylatora pierścieniowego i dodatkowych bloków kontrolujących działanie układu. Prototyp został zaprojektowany w technologii LF CMOS 0,15 um (1,8 V) i współpracuje z procesorem OctaLynx).

2

Wpływ zaburzeń elektromagnetycznych na pracę cyfrowych układów scalonych

Kuciński S.

Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki

|

2002

|

nr 3

22-25

3

Metody analizy wyników badań podatności cyfrowych układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne

Kuciński S.

Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki

|

2002

|

nr 4

18-21

4

Przegląd metod badania kompatybilności elektromagnetycznej cyfrowych układów scalonych

Kuciński S.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

|

2001

|

nr 146

55-58

5

Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne

Kołodziejski J. F., Kuciński S.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

1999

|

z. 93

45--54

PL

W referacie przedstawiono niektóre problemy związane z badaniami odporności modułów i układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne. Na wstępie uzasadniono potrzebę takich badań oraz przedstawiono podział metod badawczych. Dalej zaprezentowano nową metodę badań odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne, wykorzystującą tzw. małą klatkę Faraday'a. Opisano stanowisko badawcze. Przedstawiono analizę przydatności tej metody w różnych zastosowaniach. Zaprezentowano również niektóre wyniki badań odporności na zaburzenia elektromagnetyczne cyfrowych układów scalonych, przeprowadzonych według proponowanej metody.

EN

This paper presents some problems related to electronic modules and integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances. At the beginning the need for such kind testing has been justified and a classification of testing methods has been presented. The new method of integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances with the use of a small Faraday's cage has been also presented. The testing set-up has been shown. Carried out analysis of application possibilities of presented method has been shortly described. Some results of digital integrated circuits immunity testing against electromagnetic disturbances, based on the proposed method has been finally presented.