Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Metrology and Measurement Systems

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: cyclic A/D converters

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Application of digital dither to reduction of feedback D/A converters influence on intelligent cyclic A/D converters performance

Jędrzejewski K., Platonov A. A.

Metrology and Measurement Systems

2006

Vol. 13, nr 4

357-372

The effect of termination of resolution growth, common for cyclic analogue-to-digital converters (CADCs) the, which appears after a definite (threshold) number of the conversion cycles, is investigated in the paper. The effect is caused by the finite resolution of the D/A converter (DAC) in the feedback chain. In an "intelligent" CADC (IC ADC, [1-6]), the growth of resolution can be restored by adding the digital dithering signal to the signal at the input of the feedback DAC. The dependence of the rate of restored growth of resolution on the distribution and amplitude of the dithering signal is investigated. The results of analysis are verified in advanced simulation experiments.

Analysis of influence of internal converters nonlinearity on intelligent cyclic ADC performance

Jędrzejewski K., Platonov A. A.

Metrology and Measurement Systems

2005

Vol. 12, nr 4

343-353

The task of the paper is the presentation of a modelling approach to quantitative analysis of the influence of internal converter nonlinearities on the performance of sub-optimal intelligent cyclic A/D coverters (IC ADCs) developed and analysed in works [1-5] and others. The results of investigations permit to determine requirements to the analogue elements of IC ADC architecture, first of all to an internal low-bit A/D converter (ADCIn), which is the most crucial for the design and practical implementation of IC ADC.

Celem niniejszego artykułu jest zaprezentowanie efektywnego podejścia do ilościowej i jakościowej analizy wpływu nieliniowości wewnętrznych przetworników ADCIn na jakość pracy sub-optymaInych cyklicznych przetworników analogowo cyfrowych (IC ADC) należących do nowej klasy przetworników A/C zaproponowanych i badanych w [1-5, 12, 13] i innych pracach. Wyniki przeprowadzonych badań pokazują, że w pewnym zakresie odchylenia charakterystyki przejściowej wewnętrznych przetworników ADCIn od jej nominalnej postaci (w przedstawionych eksperymentach do około 0.6-0.7 [LSB] w zależności od rozdzielczości przetwornika) nie wpływają na jakość pracy sub-optymaInych IC ADC. Eksperymenty potwierdziły stabilność empirycznych wartości ENOB, THD, SINAD w dość szerokim zakresie zmian całkowitej i różnicowej nieliniowości ADCIn. Zaproponowana w pracy metoda analizy symulacyjnej pozwala na ocenę granic odpowiednich przedziałów tolerancji, co z kolei pozwala obniżyć wymagania technologiczne oraz obniżyć koszty produkcji wewnętrznych przetworników ADCIn, a co za tym idzie obniża ogólne koszty produkcji IC ADC.