Important aspects of the cross-correlation in the pulsed eddy current defectoscopy are analyzed and discussed. The application of the technique is described and illustrated with an example of an artificial defect in an electrically conductive steel plate. The results of the measurements are compared with the data obtained for the reference defect.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.