Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Przegląd Elektrotechniczny

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: correlated double sampling

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pikselowy cyfrowy układ CDS przeznaczony do przetwornika obrazu CMOS

Jakusz J., Kłosowski M., Jendernalik W., Blakiewicz G.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

R. 89, nr 10

83-85

W artykule zaproponowano cyfrowy układ CDS (Correlated Double Sampling) przeznaczony do przetwornika obrazu CMOS. Układ różni się od klasycznych rozwiązań tym, że dwie pamięci przechowujące próbki sygnału wizyjnego zastąpiono jednym licznikiem rewersyjnym. Dzięki tej modyfikacji możliwa jest znaczna redukcja powierzchni układu CDS i umieszczenie go w każdym pikselu przetwornika obrazu CMOS. System został zaprojektowany i przesymulowany w technologii CMOS 180 nm.

In this paper a digital CDS (Correlated Double Sampling) circuit for the CMOS image sensor is proposed. This circuit differs from the conventional solutions in that the two memories, storing video samples, are replaced by a reversible counter. This modification enables a significant reduction in the area and it makes possible to put the CDS in each pixel. The system has been designed and simulated in 180 nm CMOS technology.

Analiza układu podwójnego skorelowanego próbkowania z całkowaniem

Popowicz A.

Przegląd Elektrotechniczny

2012

R. 88, nr 2

200-203

Celem artykułu jest zaprezentowanie cech układu podwójnego skorelowanego próbkowania z członem całkującym (CDSI). Zostały przedstawione jego przewagi nad typowym układem CDS w precyzyjnych pomiarach niewielkich napięć stałych. Szczególną uwagę poświęcono analizie szumowej układu oraz optymalnemu doborowi czasu całkowania, decydującym o dokładności wyników pomiarów.

Features of a correlated double sampling (CDS) circuit with integration part are presented in article. Its advantages for constant voltage measurement purpose are also highlighted. The main purpose of the article includes noise analysis and requirement of particular integration time selection to improve measurement precision.