Przedstawiono wyniki badań metodą spektroskopii fotoelektronowej (XPS) procesu utleniania warstwy wierzchniej aktywowanej folii polipropylenowej orientowanej dwukierunkowo (BOPP). Badano warstwy grubości 0,6, 1,9 i 3,7 nm, co odpowiada kątom emisji fotoelektronów 10°, 30° i 90°. Stwierdzono wpływ wynikającego z metody badawczej oddziaływania promieniowania rentgenowskiego i ultrawysokiej próżni (UHV), powodujących desorpcję tlenu z warstwy wierzchniej. W przypadku folii aktywowanej z dużą jednostkową energią aktywowania (Ej > 30 kJ/m2) desorpcja ta powoduje zmniejszenie ilości tlenu w zewnętrznej warstwie materiału grubości ok. 2 nm do poziomu niższego niż w warstwie leżącej głębiej (tabela 4, próbka 6). Zjawisko to jest jednym ze źródeł błędów metody XPS, stosowanej w badaniach warstwy wierzchniej polimerów.
EN
Photoelectron spectroscopy (XPS) was used to study oxidation in the upper layer of biaxially oriented PP film (BOPP). The layers examined were 0.6, 1.9 and 3.7 nm deep, corresponding to photoelectron take-off angles of 10°, 30° and 90°. X-ray and ultrahigh vacuum (UHV), associated with the study method, were found to promote desorption of oxygen from the upper layer. In the films exhibiting high activation specific energies (Ej > 30 kj/m2), this desorption was found to deplete the external layer about 2 nm deep in oxygen as compared with deeper layers (Table 4, Sample 6). This depletion is one of the sources of error in the XPS method used to study polymer film upper layers.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.