Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: coordinate transform

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Reconstruction of the relative coordinates of image using projective geometry

Augustynowicz M., Sawicki D.

Przegląd Elektrotechniczny

2016

R. 92, nr 1

208--211

Problem of determining the relative position often occurs in the process of image recognition. In general form, it can be described as quadrilateral to rectangle transformation. This paper describes and compares methods of simple relative coordinates calculation on the flat surface. The surface position can be set at any angle to the camera and in any rotation as well. The problem can be solved in efficient way using projective geometry, the new reconstruction method is introduced.

Problem określenia względnego położenia obiektów często występuje w procesie rozpoznawania obrazu. W ogólnej postaci, może to być opisane przekształceniem dowolnego czworokąta w prostokąt. W artykule przeanalizowano proste przekształcenia tego typu dla dowolnego ustawienia płaskiej powierzchni względem kamery. Został zaproponowany nowy algorytm, który rozwiązuje problem w prosty sposób z wykorzystaniem geometrii rzutowej.

Novel methods of interferogram analysis supporting static and active MEMS testing

Kacperski J., Kujawińska M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 8-9

220-223

Increasing technological capabilities to produce active microelements (incl. microbeams, micromembranes and micromirrors) and their expanding areas of application introduce unprecedented requirements concerning their design and testing. The best means of experimental analysis of microelements are provided by full-field optical methods enabling high accuracy static and dynamic testing. Some interferograms with closed fringes (circular carrier frequency CCF), obtained with two-beam interferometry, are difficult to process using conventional methods like FT, SCPS, or TPS. In the paper two methods for interferogram with CCF analysis are presented. Features of these methods are discussed and exemplary results of interferograms processing are shown.

Rosnące możliwości technologiczne produkcji aktywnych mikroelementów (mikrobelek, mikromembran, mikrozwierciadeł) i obszary ich stosowania stawiają niespotykane dotychczas wymagania dotyczące projektowania i badania takich elementów. Najlepszymi metodami ich eksperymentalnej analizy są polowe metody optyczne zapewniające wysoką dokładność badań zarówno statycznych jak i dynamicznych. Niektóre interferogramy z prążkami zamkniętymi (kołową częstością nośną KCN), uzyskane z interferometrii dwuwiązkowej, są trudne do analizy konwencjonalnymi metodami takimi jak: TF, ZFCN czy DZF. W niniejszym artykule przedstawione są dwie metody analizy interferogramów z KCN. Omówione są cechy tych metod i przedstawione przykładowe wyniki analizy interferogramów.