Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  conducting layer
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Thick (0.125 mm) sheet samples of PET were irradiated with 150 keV Cs+ ion beam with fluences in the range from 10^13 cm^-2 up to 10^16 cm^-2). Raman and UV-VIS spectroscopy measurements shown destruction of numerous bonds within the polymer – this effect intensifies with fluence. Raman spectroscopy shows the presence of amorphous graphitelike structures as the broad G band appears in the collected spectrum. The analysis of absorbance spectra also confirms formation of numerous carbon clusters leading to a formation of vast conducting structures in the modified layer of the polymer. One can observe the decrease of optical bandgap from 3.85 eV (typical for pristine PET) to 1.05 eV for the sample implanted with the highest fluence, the effect is weaker than for lighter alkali metal ions. The estimated average number of C atom in a clusters reaches in such case values close to 1100. The changes in the polymer structure lead to intense reduction of electrical sheet resistivity of the modified samples by ~ 8 orders of magnitude in the case of severely modified sample. The dependence of resistivity on temperature has also been measured. The plots of ln(σ) vs 1/T show that band conductivity or nearest neighbor hopping between conducting structures prevail in the considered case
PL
Artykuł przedstawia sposób oceny dokładności metody i niepewności uzyskanych wyników pomiaru konduktywności warstw metalicznych dokonywanych metodą prądów wirowych. Analizowano składowe cząstkowe oraz całkowitą niepewność stanowiska pomiarowego służącego do kontroli warstw z przeznaczeniem do zastosowań w budownictwie.
EN
The article presents an analysis of accuracy of method and uncertainty of measurement a metallic layer conductivity. The measure is made by eddy current method. Standard and expanded uncertainty of measuring system prepared for layer conductivity control are analysed.
PL
Artykuł przedstawia metodę pomiaru rezystancji cienkich warstw metalicznych uzyskiwanych w procesie napylania jonowego. Metoda polega na indukowaniu w warstwie prądów wirowych przez cewkę pomiarową pracującą w układzie szeregowego obwodu rezonansowego.
EN
The article presents a method of resistance measure of thin metallic layers made by ion sputtering. The method rely on eddy current induction, in the layer, by measurement coil working in serial resonance circuit.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.