Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: computer measuring systems

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Komputerowe systemy pomiarowe w dydaktyce metrologii

Gawędzki W.

Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika

2005

z. 28 [223]

293-300

W artykule omówiono opracowany przez autora program przedmiotu "Komputerowe Systemy Pomiarowe", który może być prowadzony na kierunku Elektrotechnika studiów magisterskich i inżynierskich, jak również na kierunku Informatyka Stosowana. Przedstawiono treści programowe wykładów i laboratorium prowadzonych w cyklu jednosemestralnym. Zarysowano problemy występujące w dydaktyce metrologii komputerowych systemów pomiarowych spowodowane obszernością i różnorodnością zagadnień tej dziedziny wiedzy.

A course "Computer Measuring Systems" developed by the author is discussed in the paper. The course can be taugh within the Electrical engineering syllabus at the first and second stage of M.Sc. studies (master degree) as well as within Applied computer science syllabus. The contens of the course covering one-semester lectures and laboratory exercises are presented. Selected problems concerning teaching computer measuring systems metrology caused by the extensiveness and diversity of this branch of science are outlined.

Komputerowy system pomiarów, znakowania i sortowania kondensatorów ceramicznych

Kornacki W., Pikiel M., Prusaczyk E.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

1998

nr 133

12-23

W pracy przedstawiono budowę funkcjonowanie i algorytmy pomiarowe komputerowego systemu do pomiarów, znakowania i sortowania kondensatorów ceramicznych.

Komputerowy system do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych

Machalica P., Rogala K., Srokosz R.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

1998

nr 133

50-65

Ze względu na wymagania wynikające z odpowiednich norm wszystkie wyprodukowane kondensatory przeciwzakłóceniowe muszą być poddane produkcyjnym testom jakościowym i testom bezpieczeństwa. Wysoka elastyczność produkcji oraz wymagana współpraca z systemem zapewnienia jakości stawiają systemowi do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych wysokie wymagania funkcjonalne i niezawodnościowe, przy zachowaniu daleko idących możliwości jego rekonfiguracji i rozbudowy. Wymagania te spełnia hierarchiczny, zdecentralizowany system o strukturze otwartej, opracowany pizez Przemysłowy instytut Elektroniki i wdrożony do produkcji w przedsiębiorstwie MIFLEX.