This paper presents analysis of components tolerance influence on fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits. There has been proposed method of finding optimal frequency of input periodic excitation with simultaneous maximization of components tolerances in order to keep assumed level of diagnosis efficiency. There has been also proposed departure from classical "location after detection" schema. Combination of detection and location in a single step can remarkably shorten diagnosis time. The optimization process involves genetic algorithm.
PL
W pracy przeanalizowano wpływ tolerancji projektowych elementów na skuteczność diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano metodę doboru częstotliwości okresowego pobudzenia testowego z jednoczesną maksymalizacją tolerancji elementów przy zachowaniu założonej skuteczności diagnostyki. Zaproponowano także odejście od klasycznego dwuetapowego schematu: ''lokalizacja po detekcji", co pozwoliło na skrócenie całkowitego czasu testowania. W procesie optymalizacyjnym wykorzystano algorytm genetyczny.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.