Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2001

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: complementary methods

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badanie wybranych warstw optycznych mikroskopem sił atomowych i metodami komplementarnymi.

Ciosek J., Pankowski P., Paszkowicz W., Pełka J.B., Marczak J., Ostrowski R., Baczewski L.T.

Inżynieria Materiałowa

2001

R. XXII, nr 6

1060-1066

Dielektryczne warstwy z materiałów tlenkowych: HfO2 i ZrO2 mają zastosowanie w zwierciadłach laserowych dla zakresów UV-IR. Materiały te posiadają szczególne własności, gdyż oprócz wysokiej wytrzymałości na działanie wiązki laserowej, charakteryzują się małymi rozproszeniami promieniowania i niskim pochłanianiem promieniowania w zakresie od 0,25 mikrometra do 7 mikrometrów. W pracy badano własności warstw HfO2 i ZrO2 nanoszonych metodą PVD z zastosowaniem działa elektronowego (EB). Badano jakość powierzchni warstw metodą AFM, strukturę warstw metodami XRD i GIXR oraz odporność na działanie promieniowania lasera Nd: YAG. Stwierdzono występowanie różnic struktury warstw HfO2 naniesionych na podłoże ze szkła BK7 i topionego kwarcu. Określono progi odporności warstw na działanie promieniowania lasera Nd: YAG.

Dielectric oxide layers: HfO2 and ZrO2 are used in laser mirrors for UV-IR ranges. They are characterised by unique properties, because except for their good resistivity on high-energy laser beam, they also exhibit a low scattering level and low absorption coefficient for radiation from 0,25 micrometers to 7 micrometers. The layers were evaporated by PVD method with electron beam (EB) guns. Morphology of the experimental materials layers was comprehensively characterised by atomic force microscopy (AFM). Their microstructure was studied by X-ray diffraction (XRD) and X-ray reflectometry (GIXR). Their radiation-damage threshold was investigated at wavelength of Nd:YAG laser. The analysis demonstrates a structural difference between HfO2 layers evaporated on the BK7 glass and on melted quartz substrates.