Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: compactor

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zagęszczarki

Drogi Publiczne

2021

nr 3

49--50

Stosuje się wiele sposobów zagęszczania gruntów: wałowanie, wibrowanie, ubijanie itd. Przy niewielkich naprawach dróg lub w miejscach trudno dostępnych - czyli wszędzie tam, gdzie zastosowanie walców jest nieekonomiczne - świetnie sprawdzą się niewielkich rozmiarów zagęszczarki i ubijarki.

Kruszarki

Gola-Sienkiewicz R.

Recykling

2009

nr 7-8

12-12

Świadome działania służące ochronie środowiska zwiększają ilość odzyskiwanych odpadów. Z kolei celem każdego indywidualnego procesu recyklingu jest odzyskanie surowców nadających się do wtórnego wykorzystania, aby w ten sposób zminimalizować ogólną ilość powstających odpadów.

Functional and dependable testing of identical digital structures on wafer

Gamża W., Hławiczka A., Kopeć M.

Archiwum Informatyki Teoretycznej i Stosowanej

2002

T. 14, z. 3

203-217

In this paper we present a method of functional testing of N identical digital structures on a wafer, which allows an increase in production yield. In order to decrease the number of measure points the IEEE1149.1 architecture was implemented in every structure. The use of a build-in self-tester with test-per-clock testing equipped with a specially modified MISR-NOT compactor allowed a test time reduction and the achievement of dynamical, reliable testing. The modification of the IEEE 1149.1 architecture presented in this paper enables to fully exploit the features of the MISR-NOT register. Moreover the testing scheme of a single structure as well as scheme of a testing of all N structures on a wafer is presented.

W pracy przedstawiono metodę dynamicznego funkcjonalnego testowania N identycznych struktur cyfrowych na płytce krzemowej umożliwiającą zwiększenie uzysku produkcyjnego. W celu zmniejszenia liczby ostrzy pomiarowych wprowadzono do każdej struktury sprzęg IEEE 1149.1. Dynamiczne, wiarygodne oraz skrócone testowanie uzyskano dzięki wprowadzeniu do każdej struktury testera wewnątrz układowego umożliwiającego testowanie typu "test-per-clok" i wyposażonego w specjalny kompaktor w postaci rejestru MISR-NOT. W pracy zaproponowano modyfikacje sprzętowe sprzęgu IEEE 1149.1 umożliwiające efektywne wykorzystanie właściwości rejestru MISR-NOT pozwalających na jego wiarygodne testowanie. Ponadto opisano scenariusz testowania pojedynczej struktury cyfrowej oraz plan testowania wszystkich N struktur cyfrowych N struktur na płytce krzemowej. Pracę zakończono wnioskami.