Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  cienkie warstwy przewodzące
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
In this paper, the results of mechanical strength tests of thin conductive Ag and Au layers created on Cordura composite substrate using the thermal vapor deposition method are presented. The resistance of the conductive layers to the bending and tensile stresses was tested and changing the surface resistance of the test structures was accepted as a criterion. The layers created on unmodified and plasma-treated surfaces have been examined. As a result of the surface modification, the electrical and mechanical properties of the thin Ag and Au metal structures have been improved. The results of measurements of surface resistance changes during strength tests and SEM microscopic studies of stressed samples indicate the high mechanical strength of the electroconductive layers deposited on Cordura, which may be the basis for the application of such technology in textronics applications.
PL
W artykule przedstawiono sposób modelowania wiroprądowego przetwornika do pomiaru konduktywności cienkich warstw przewodzących. Zaprezentowano wyniki symulacji oddziaływania warstw, o założonych właściwościach fizycznych, na system pomiarowy.
EN
In this article modelling of eddy current sensor for conductivity measurement of thin conductive layers has been presented. The layers which have assumed physical properties have an influence on the measuring system. The results of simulation were discussed.
PL
W artykule przedstawiono wyniki badań metoda wiroprądową cienkich warstw metalicznych. Obiektem badania były warstwy przewodzące ze stali chromoniklowej naniesione na podłoze szklane w procesie napylania magnetronowego. Opisano sposób pomiaru rezystywności warstw oraz oceniono możliwość zastosowania tej metody w procesie technologicznym.
EN
The conducting film made by magnetron sputtering process on a glass substructure are investigated. The eddy current method is used for the resistivity measurement of the films. An application of the method in technological process is considered.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.