Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Hutnik, Wiadomości Hutnicze

1 2004

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałów

Kusiński J., Chmielowska M., Kopia A., Kowalski K., Chmielowski R.

Hutnik, Wiadomości Hutnicze

2004

Vol. 71, nr 3

120-128

W pracy przedstawiono wyniki badań struktury i własności katalitycznych cienkich warstw CeO2 domieszkowanych Cu (6,5, 15, 21,5, 27% at.) wytworzonych techniką ablacji laserowej. Przeprowadzno analizę fazową na dyfaktometrze rentgenowskim, badania struktury na mikroskopach skaningowym i transmisyjnym, oraz własności katalitycznych, za pomocą spektroskopii w podczerwieni. Analiza wyników badań wykazała zmiany struktury, tekstury i własności katalitycznych wraz ze wzrostem zawartości miedzi w warstwach. Ponadto przeprowadzono badania transportu masy w wysokich temperaturach w warstwie przypowierzchniowej tlenku cyrkonu stabilizowanego itrem. Stwierdzono na powierzchni, przy pomocy metody AR-XPS, bardzo silną segregację krzemu, będącego tylko śladowym zanieczyszczeniem w objętości. Metodą SIMS badano dyfuzję tytanu i wapnia wewnątrz ziaren przyległych do powierzchni i wzdłuż granic ziarnowych.

CeO2 thin films doped with copper were elaborated by Pulsed Laser Deposition with variable atomic fractions of Cu (6.5, 15, 21.5, 27% at). The thin films were characterized by means of scanning and high - resolution electron microscopy, x -ray diffraction analysis and infrared spetroscopy. The results of investigation showed structure, texture and catalytic properties modifications of the thin films with Cu content increase. Mass transport in the surface layer of yttria - stabilized zirconia was investigated at high temperatures. A very strong surface segregation of silicium, which is only a trace contamination in the bulk, was found. The diffusion of titanium and calcium in the bulk of grains adjacent to the surface and along grain boundaries was studied using the SIMS method.