PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  cienka warstwa przewodząca
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Analiza rozkładu pola przepływowego w cienkiej warstwie przewodzącej z defektem eliptycznym
Pawłowski Stanisław, Plewako Jolanta, Korzeniewska Ewa
Przegląd Elektrotechniczny
|
2020
|
R. 96, nr 1
234--237
PL
W artykule zaprezentowano analityczne rozwiązanie zagadnienia obliczania rozkładu pola przepływowego w cienkiej warstwie przewodzącej z defektem (pęknięciem) o kształcie elipsy. Wyprowadzono wzory na funkcje potencjału i składowych pola elektrycznego oraz przybliżony wzór pozwalający oszacować wpływ defektu na natężenie prądu w ścieżce przewodzącej. Ponadto podano wzory dla pęknięcia nieskończenie cienkiego oraz dokonano oceny wpływu tej idealizacji na oszacowanie natężenia prądu w ścieżce.
EN
The article presents an analytical solution of the problem of calculating the flow field distribution in a thin electroconductive layer defected with the cracks in the shape of an ellipse. The formulas for the functions of the potential and the electric field components as well the approximate formula allowing to estimate the impact of the defect on the current in the electroconductive layer were derived. In addition, formulas for infinitely thin cracks were given and the impact of this idealization on the estimation of current in the electric path was assessed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.