PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  charakterystyka adresowa pamięci
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
Mrozek I., Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 12
114-116
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
2
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
Mrozek I., Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 9
161-163
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.