Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: ceramika alundowa

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Peltier modules array on common alumina substrate for the blind : thermal and electrical tests

Gołda A., Magoński Z., Kos A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 12

33-36

The paper presents the thermal prosthesis for the blind people. Peltier micro-modules are soldered to the alumina substrate with screen printed connections. Featured solution enables accelerating the work of the device, better temperature stabilization of the touched Peltier micro-module, more accurate thermal visualization and higher mechanical strength. Electrical and thermal test results enable choosing optimal power supply voltage for Peltier micro-pumps.

Przedstawiono termiczną protezę dla osób niewidomych. Mikromoduły Peltiera zostały przylutowane do podłoża alundowego, na którym wykonano połączenia metodą sitodruku. Prezentowane rozwiązanie umożliwia przyśpieszenie pracy urządzenia, lepszą stabilizację temperatury dotykanych mikromodułów Peltiera, dokładniejszą wizualizację termiczną i większą wytrzymałość mechaniczną.

Emisyjność w podczerwieni materiałów stosowanych w mikroelektronice

Więcek B.

Elektronika : prace naukowe

1998

nr 3

111-129

W pracy przedstawiono własności promienne materiałów stosowanych w mikroelektronice, w tym półprzewodników, dielektryków i metali. Wyniki pomiarów emisyjności spektralnej krzemu, germanu, aluminium, warstw diamentopodobnych oraz ceramiki alundowej mogą być wykorzystane do termografii i modelowania złożonej wymiany ciepła.

This paper presents radiation characteristics and IR emissivity measurements for materials used in electronics, eg.: aluminium, silicon, germanium and diamond-like structures, alumina. The measurements of emissivity for semitransparent and multilayers dielectric materials performed with the use of IR Spectrometer are presented. For every sample the reflected and transmitted energy is measured, and material constants for various spectral ranges are evaluated. The results of this work may be useful both in modelling heal removal by radiation in microelectronic devices and in thermography.