Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 2011

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: catastrophic fault

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Ewolucyjny dobór pobudzenia do diagnozowania uszkodzeń w układach analogowych

Korzybski M., Ossowski M.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 10

167-170

Praca poświęcona jest metodzie dobierania częstotliwości prostokątnego pobudzenia przeznaczonego do diagnozowania uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w obwodach analogowych. Wynikiem stosunkowo dużego kosztu obliczeniowego oceny przydatności diagnostycznej każdej częstotliwości zastosowany został algorytm symulowanego wyżarzania, znacznie oszczędniejszy od algorytmu pełnego przeglądu przestrzeni rozwiązań. Opisane przykłady potwierdzają skuteczność prezentowanej metody.

The paper is devoted to the algorithm for the selection of the frequency of the rectangular input signal used in the parametric and catastrophic fault diagnosis in analog circuits. The calculation of frequency adjustment is very time consuming, so the simulated annealing algorithm is applied for the optimization of the stimuli frequency. The numerical examples confirm the effectiveness of the proposed method.

Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind

Chruszczyk Ł.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 12

42-46

This paper presents analysis of components tolerance influence on fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits. There has been proposed method of finding optimal frequency of input periodic excitation with simultaneous maximization of components tolerances in order to keep assumed level of diagnosis efficiency. There has been also proposed departure from classical "location after detection" schema. Combination of detection and location in a single step can remarkably shorten diagnosis time. The optimization process involves genetic algorithm.

W pracy przeanalizowano wpływ tolerancji projektowych elementów na skuteczność diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano metodę doboru częstotliwości okresowego pobudzenia testowego z jednoczesną maksymalizacją tolerancji elementów przy zachowaniu założonej skuteczności diagnostyki. Zaproponowano także odejście od klasycznego dwuetapowego schematu: ''lokalizacja po detekcji", co pozwoliło na skrócenie całkowitego czasu testowania. W procesie optymalizacyjnym wykorzystano algorytm genetyczny.