Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2000

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: carbonaceous films

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Electron emission from carbonaceous films containing metalic nanostructures

Czerwosz E., Dłużewski P., Kozłowski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2000

Vol. 41, nr 11

42-45

The electron emission studies in diode system for carbonaceous films containing metal (Ni or Pd) nanocrystals are presented. The emissive properties of films are discussed with correlation to structural and electrical properties of these films. The structure of films was studied employing TEM, SEM and electron diffraction methods. The work function value for studied films is calculated using elementary Fowler - Nordheim method for analysed I-U plots obtained in diode system. The calculated work function value is lowered in comparison with work function for bulk materials. I-U characteristics for electron emission from applied with additional blas voltage along the film surface are also presented.

W artykule przedstawiono wyniki badań dotyczących określenia struktury, topografii, własności elektrycznych oraz zimnej emisji elektronowej dla warstw zbudowanych z matrycy węglowej, w której zawarte są nanokryształy metali M (M = Ni, Pd). Takie materiały nanokrystaliczne (dla których typowa wielkość ziaren wynosi od 5 do 50 nm) są interesujące ze względu na możliwość ich wielorakiego zastosowania (nanoelektronika, kataliza, trybologia). Własności tych materiałów silnie zależą od wielkości nanokryształów oraz od efektów na granicy nanoziaren. Dodatkowe zjawiska pojawiają się gdy nanokryształy znajdują się w aktywnym otoczeniu (np. w matrycy węglowej). Takie otoczenie jak matryca węglowa może stabilizować zachowanie nanokryształów. Poza tym obserwowane są wtedy zmiany własności fizycznych takiego układu w porównaniu z materiałami krystalicznymi, takimi jak C60, Ni lub Pd (np. zmiana wartości pracy wyjścia czy własności emisji elektronowej). Warstwy, dla których wyniki badań zostały przedstawione w tej pracy, były otrzymane metodą termicznego parowania. Proces przeprowadzono z dwóch różnych źródeł (łódek tantalowych), w których umieszczono: w jednym mieszaninę fullerenu C60/C70, w drugim związek organiczny metalu M. Warstwy były nakładane na podłoża z taśmy Mo lub kwarcowe. Po procesie, w którym otrzymywano warstwy, badano ich strukturę i topografię (metodami transmisyjnej oraz skaningowej mikroskopii elektronowej), mierzono emisję elektronową w układzie diodowym oraz w układzie, gdzie zastosowano dodatkowo napięcie wzdłuż warstwy. Wyniki badań mikroskopowych warstw dają obraz struktury złożonej z nanokryształów metalu wbudowanych w matrycę węglową. W zależności od ilości metalu w warstwie obserwowano różne wielkości nanokryształów oraz ich różne rozłożenie w matrycy (gęstość występowania). Ilustrują to obrazy TEM. Wydaje się, że z wielkością nanokryształów są skorelowane makroskopowe własności elektryczne warstwy. Pomiary zimnej emisji elektronowej z warstw w układzie diodowym pokazują, że emisja ta zachodzi w sposób nie dający się opisać teorią Fowlera-Nordheima. W niektórych warstwach zaobserwowano formowanie ścieżek przewodnictwa pokazanych na obrazach SEM oraz TEM. Ścieżki te są utworzone ze zgrupowań nanokryształów metalu. Badania emisji elektronowej w układzie diodowym, w którym zastosowano dodatkowo napięcie wzdłuż warstwy pokazują, że charakterystyka prądowa dla prądu płynącego wzdłuż warstwy ma charakter nieomowy, a natężenie prądu emisji elektronowej wzrasta ze wzrostem napięcia wzdłuż warstwy.