Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: cantilever probe card

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Znaczenie sił styku w testach układów scalonych płytek krzemowych. Cz. 1

Dąbrowiecki Krzysztof

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2021

Vol. 62, nr 4

21--25

W części pierwszej artykułu przedstawiono znaczenie siły docisku w kartach wspornikowych jako jednego z najważniejszych parametrów w testowaniu układów scalonych. Zaprezentowano właściwości materiałów używanych do budowy mikrokontaktorów (μkontaktorów) wspornikowych. Omówiono udoskonaloną metodę projektowania μkontaktorów wsporników.

The first part of the article presents the importance of the contact force in cantilever probe cards as one of the most important parameters in the IC testing. Properties of materials used in the construction of cantilever probes (μcontactors) are presented. An improved method of probe designing with the use of the 3D finite element models is discussed.