Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: boundary scan

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Open-Source JTAG Simulator Bundle for Labs

Shibin K., Devadze S., Rosin V., Jutman A., Ubar R.

International Journal of Electronics and Telecommunications

2012

Vol. 58, No. 3

233-239

This paper presents a software/hardware bundle for studying, training and research related to IEEE 1149.1 Boundary Scan (BS) standard. The presented package includes a software environment Trainer 1149 that is capable to graphically visualize BS facilities and perform fine-grain simulation of BS test process. Trainer 1149 provides a cozy graphical design and simulation environment of BS-enabled chips and non-BS clusters. It provides the user with a full flexibility in working with any type of BS structures by supporting standard formats such as Boundary Scan Description Language and SVF (for defining test patterns). A special fault simulation mode allows injecting various types of interconnection faults to simulate their impact and inspect them using interactive tools. Trainer 1149 is the main component of a recent goJTAG initiative that aims at bringing JTAG tools closer to the user for both learning and experimental work purposes. The software part is implemented in multi-platform Java environment and distributed as an open-source freeware. Using a convenient low-cost USB-JTAG controller, one can also test real defects in real hardware. Such combination of features is unique for a public domain BS package.

Testowanie krawędziowe układów cyfrowych

Skorupski A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2004

Vol. 45, nr 11

40-45

Przedstawiono jedną z nowoczesnych metod testowania ukladów cyfrowych, tzw. metodę testowania krawędziowego. Jest ona dobrym narzędziem do szybkiego i efektywnego testowania złożonych układów cyfrowych, np. zrealizowanych w strukturach FPGA. Przedstawiono także zbiór układów scalonych pozwalających na implementacje tej metody. O popularności jej świadczy fakt, że została ujęta w normę o nazwie IEEE 1149.

The main aim of this paper is to present the some kind of debugging and testing of digital circuits. Boundary-Scan method and IEEE 1149.1 standard is considered. This method gives to designer the effective tool for rapid debugging and testing. The answer how implement this method gives a brief overview of SCOPE IC series.