PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  bliska podczerwień odbiciowa
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Zastosowanie spektroskopii odbiciowej w bliskiej odbiciowej w bliskiej papierów opakowaniowych
Garsztka D., Buhłak K., Zalewski R. I.
Przegląd Papierniczy
|
2010
|
R. 66, nr 6
342-346
PL
W pracy przedstawiono zastosowanie spektroskopii w bliskiej podczerwieni do analizy papieru używanego do produkcji tektury falistej. Zastosowanie tej szybkiej metody pomiarowej umożliwia rozróżnianie rodzaju papieru, strony filcowej i spodniej, typu maszyny papierniczej. Obróbka danych spektralnych metodą PSL1 umożliwia ponadto obliczenie wielkości szeregu parametrów papieru, takich jak np. gramatura, zawartość masy makulaturowej, półchemicznej lub niebielonej siarczanowej sosnowej.
EN
Near infrared spectroscopy has been applied in analysis of paper for production of corrugated board. This very fast method allows analysis of different sorts of paper, top felt and bottom felt, type of paper machine. Application of PLS1 regression to spectral data allows calculation of such parameters as: basis weight, content of recycled, semichemical or unbleached sulfate pine-pulp directly form spectral data.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.