Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: bed of nails

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Uniwersalny system testujący urządzenia elektroniczne

Mocha J., Łaskarzewski Z.

Pomiary Automatyka Kontrola

2009

R. 55, nr 7

426-428

W artykule omówiono sposób działania aplikacji, funkcjonalność systemu, a także przeznaczenie uniwersalnego systemu testującego. Omówiono warstwową architekturę komunikacji pomiędzy częścią sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, aplikacją sterującą oraz systemem bazodanowym i wynikające z takiego podejścia zalety. Przedstawiono nowatorski sposób definiowania logiki testu w postaci wtyczek (ang. plug-in) w połączeniu z parametrami zdefiniowanymi w bazie danych.

The paper presents a universal testing system and its communication mechanisms. The system is dedicated for electronic device testing and configuration during final stage of manufacturing. The system construction was designed for quality control, efficient work, easy self-diagnostics, economic new device types deploying. The introduction contains reference to other systems and popular methods of electronic device testing [1, 2]. In the next section the system architecture [3] is discussed. An easy in-circuit testing method based on the specially prepared testing program loaded to a microcontroller of the tested device is applied in the system. The testing system structure is shown in Fig. 1. The third section contains the description of tester functionality [4] and the block diagram of the testing system hardware part (Fig. 2). The next section presents the tiered architecture of communication between the tester and control application (Fig. 3), SCPI based communication protocol [6], command exchange mechanisms between control application, tester and database server in command flow diagram (Fig. 4) and aspects of test logic design. Start of testing process is connected with loading the plug-in library with test logic definition. The users of the system do not have to be skilled and experienced, since the system is easy to apply and the test design process is rapid. The presented system functionality is sufficient for testing electronic devices and makes it possible to detect many potential damages.

Część sprzętowa uniwersalnego stanowiska testującego

Mocha J., Łaskarzewski Z.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

184-186

W pracy przedstawiono budowę sprzętową uniwersalnego stanowiska testującego, przeznaczonego do końcowych elektrycznych testów urządzeń elektronicznych opuszczających linię produkcyjną. Na wstępie przedstawiono pokrótce metodykę testowania elektrycznego (testowanie funkcjonalne, ICT, kombinowane) oraz założenia projektowe, jakie musi spełniać zaprojektowana część sprzętowa testera. W dalszej części pracy przedstawiono architekturę testera, wraz z opisem budowy jego poszczególnych bloków oraz opisem zaprojektowanego obwodu drukowanego. Przedstawiona część sprzętowa stanowiska testującego jest zasadniczym elementem całego systemu, którym steruje oprogramowanie uruchamiane na komputerze PC. Do komunikacji pomiędzy testerem, a oprogramowaniem sterującym wykorzystana została sieć Ethernet oraz protokół TCP/IP.

The paper describes construction of the universal in-circuit tester. It is dedicated for final testing of electronic devices after manufacturing. There are presented basic methodologies of electrical tests (functional testing, in-circuit testing, mixed). There are also given design requirements for the tester and its architecture in detail including description of each functional block and the PCB design. Presented tester is the fundamental component of the testing system. It works under control of a program running on a PC. The tester uses the Ethernet network and the TCP/IP protocol for control and data transmission.