Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Termografia aktywna w trybie pobudzenia optycznego i konwekcyjnego

Suszyński Z., Kosikowski M.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2011

|

R. 87, nr 10

171-173

PL

Termografia aktywna jest stosowana w przemyśle elektronicznym do badania jakościowego i ilościowego właściwości cieplnych ciał stałych, a w szczególności struktur półprzewodnikowych wykonanych w technologii planarnej. Metody termografii aktywnej dzieli się ze względu na rodzaj źródła energii pobudzenia, charakter modulacji, a także techniki detekcji sygnału temperaturowego. W artykule omówiono możliwości zastosowania strumienia gazu i promieniowania optycznego w trybie modulacji przestrzennej do pobudzenia energetycznego obiektów badanych metodami termografii aktywnej. Porównano efektywność obu metod i ich możliwości aplikacyjne w odniesieniu do materiałów o różnej przewodności cieplnej.

EN

Active thermography is very often used to qualitative and qualitative diagnosing of solids, especially semiconductor structures made in planar techniques. The methods of active thermography are characterized by the kind of source of excitation, its modulation techniques as well as different approaches of temperature detection. The paper describes the possibility of using the stream of gas and optical radiation at beam displacement modulation regime for the excitation of the heat flux inside of objects. The comparison of effectiveness of those methods, for materials with different thermal effusivity, is presented in the paper.

2

Analiza odpowiedzi temperaturowej obiektu na pobudzenie energetyczne w trybie modulacji przestrzennej

Suszyński Z., Kosikowski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

Vol. 51, nr 2

123-126

PL

W artykule przedstawiono metodykę wyznaczania odpowiedzi temperaturowej na pobudzenie energetyczne w trybie modulacji przestrzennej, w tym parametrów źródła pobudzenia (moc i szerokość obszaru pobudzenia) w stanowisku badawczym do analizy właściwości cieplnych obiektów. W artykule przestawiono przykład doboru parametrów dla struktury tyrystorowej (krzem - molibden) w zależności od parametrów pobudzenia i rejestracji.

EN

This paper presents the methodology of determinate of thermal respond on energetic excitation in beam displacement modulation mode, as well as parameters of energy source, measurement setup for analysis of thermal properties of objects. There is presented an example of selection such parameters for the thiristor structure (silicon-molybdenum) in dependence to parameters of excitation source and measurement.

3

Stanowisko badawcze do szybkiej wizualizacji właściwości cieplnych struktur warstwowych w trybie modulacji przestrzennej

Suszyński Z., Kosikowski M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 10

99-101

PL

W artykule zaprezentowano i opisano koncepcję stanowiska do pomiaru właściwości cieplnych struktur planarnych metodą termofalową w trybie modulacji przestrzennej. Opisano sposób akwizycji obrazów termofalowych oraz przedstawiono przykład takiego obrazu zarejestrowanego na opisanym stanowisku badawczym.

EN

This article presents the idea of measurement setup for the determination of thermal properties of layered structures with the help of thermal-wave method in beam displacement modulation mode. There is also described the idea of acquisition of thermal-wave images, presented an example of such image acquired on described measurement setup.