W artykule wymieniono i pokrótce opisano ograniczenia w stosowaniu skaningowej mikroskopii elektronowej do sprawdzania wymagań stawianych przewodom żeliwnym przez normę PN‑EN 545:2010. Tekst został zilustrowany zdjęciami ze skaningowego mikroskopu elektronowego Hitachi S-3400.
EN
Some limitations of scanning microscope technology applying for testing the requirements of the standard PN EN 545:2010 have been listed and briefly discussed. The text has been illustrated by some images from a scanning microscope Hitachi S-3400.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.