Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Oczyszczanie magnetyczne piasków pochodzenia magmowego na przykładzie kopalni współpracującej z Górażdże Kruszywa

Stempkowska Agata, Gawenda Tomasz, Zieliński Mateusz

Surowce i Maszyny Budowlane

|

2022

|

nr 2

18--21

PL

Jedną z najważniejszych metod rozdziału mieszanin minerałów, znajdującą zastosowanie w przeróbce wielu surowców mineralnych, jest rozdział ziarn przy wykorzystaniu różnic we własnościach magnetycznych minerałów, nazwany separacją magnetyczną lub wzbogacaniem magnetycznym.

2

Trójwymiarowa rekonstrukcja powierzchni w SEM z zastosowaniem półprzewodnikowego detektora elektronów wstecznie rozproszonych

Słówko W., Jeziorski Ł., Krysztof M.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2011

|

Vol. 52, nr 11

53-55

PL

Przedstawiono system przeznaczony do trójwymiarowej (3D) rekonstrukcji powierzchni w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM), złożony z kwadrupolowego detektora półprzewodnikowego elektronów wstecznie rozproszonych, czterokanałowego sytemu cyfrowej akwizycji sygnałów i systemu przetwarzania opartego na komputerze klasy PC. Autorzy zastosowali tu metodę wykorzystującą specyficzny rozkład kątowy elektronów wstecznie rozproszonych na powierzchni próbki. Algorytmy przetwarzania sygnałów związane z procesem rekonstrukcji powierzchni zostały uzupelnione o procedury kompensacji błędów metody. Dzięki temu, po wstępnej kalibracji, system pozwala odtworzyć topografię powierzchni z dokładnością lepszą niż 10%, jeśli nachylenia nie przekraczają 60°. Pozwala także na odtworzenie kształtu bardzo gładkich powierzchni i może działać bardzo szybko, niemal w "czasie rzeczywistym" dostarczając informacji o kształcie powierzchni obiektów niezależnie od ich składu materiałowego.

EN

A 3D surface reconstruction system for SEM consisting of a quadruple semiconductor detector of backscattered electrons, a four-channel framegrabber and PC-based processing unit, is presented. The authors explored a method that takes advantage of the angular distribution of backscattered electrons to obtain quantitative topography contrast and visualise the surface shape. Software processing algorithms were developed to carry out the reconstruction process and compensate several types of errors, inherent in the method. After pre-calibration, the system allows to obtain surface topography with accuracy better than 10% when maximum slope angles are below 60°. It is also capable to reconstruct the shapes of very smooth surfaces and can operate very quickly, almost in real-time, providing reliable, composition-independent reconstructions for a broad class of materials.

3

Scanning electron microscopy examination of telecommunication single mode fiber splices

Hejna J., Ratuszek M., Majewski J., Zakrzewski Z.

Optica Applicata

|

2003

|

Vol. 33, nr 4

583-589

EN

Longitudinal sections of fused splices of different telecommunication single mode fibers were prepared and examined by scanning electron microscopy (SEM). Splices were examined for diffusion of dopant elements and for the presence of an intermediate zone. Observations in the material contrast mode obtained with backscattered electrons and X-ray microanalysis with the use of an energy dispersive spectrometer were made. Material contrast provides much better imaging of fiber cores than X-ray microanalysis and it was chosen for further studies. SEM micrographs show low amount of diffusion and good coupling of cores in splices under examination. No visible intermediate zone has been found in splices of the same fibers or fibers with similar cores. In splices of fibers with different core diameters and/or different dopant distribution the transition between cores is smooth with no visible widening of cores.